能量分辨率144±5eV
测量对象元素含量
测量范围N-U
测量精度1ppm
适用范围电子电器、金属、塑料、涂料
X射线荧光法检测涂料中有害元素方法
测试原理:涂料表层经X射线激发,发射出特征X射线,特征X射线的能量对应于各特定元素,涂料中元素的浓度直接决定谱线的强度。测量特征X射线的能量或波长,可进行定性分析。测量谱线强度即可进行定量分析。
测试方法:涂料中有害元素的含量可以采用X射线荧光法进行初检,但不得用于仲裁判定。
有害元素检出限的确定:
涂料中的有害元素都可以通过荧光法进行测试,如Cd元素为100ppm,可以通过荧光检测进行初步筛选扣除一些**出荧光检测范围的样品。比如仪器测试样品**过130ppm以上铅含量时,就不必要做化学分析,可以直接判定此样品不合格。而X射线荧光法检测是一种物理分析方法,其分析与样品的化学结合状态无关,所以要准确分析6价Cr可以通过二苯碳酰二肼分光光度法进行检测。
性能特点
下照式:可满足各种形状样品的测试需求
准直器和滤光片:多种准直器和滤光片的电动切换,满足各种测试方式的应用
平台:精细的手动平台,方便定位测试点
高分辨率探测器:提高分析的准确性
新一代的高压电源和X光管:性能稳定可靠,高达50W的功率实现更高的测试效率
技术指标
元素分析范围从硫(S)到铀(U)
分析检出限可达1ppm
分析含量一般为1ppm到99.99%
任意多个可选择的分析和识别模型
相互的基体效应校正模型
多变量非线性回归程序
温度适应范围为15℃至30℃
电源:交流220V±5V,建议配置交流净化稳压电源
能量分辨率:160±5eV
外观尺寸: 550×416×333mm
样品腔尺寸:460×298×98mm
重量:45Kg
标准配置
样品平台
电制冷Si-PIN探测器
信号检测电子电路
高低压电源
大功率X光管
计算机及喷墨打印机
应用领域
RoHS检测分析
地矿与合金(铜、不锈钢等)成分分析
金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定
黄金,铂,银等贵金属和各种饰的含量检测

随着玩具行业的发展,玩具安全法规在全世界范围内不断完善,如欧盟的《玩具安全指令》、美国的玩具安全标准-ASTM F963、ISO中一些关于玩具安全标准。这些安全标准对于玩具企业来说,执行这些标准责无旁贷;至于说到管控成本过高的问题,其实是玩具企业没有找到合适的解决方案。
针对玩具安全检测设备,X荧光光谱仪是经济有效的检测设备,它自身灵敏、的特征决定了适合生产过程的之用。
X荧光光谱仪具有元素快速分析的功能,它可萃取玩具中重金属含量测试(铅、镉、铬、、锑、钡、、硒等)、包装物料的有元素测试、邻苯二甲酸酯类含量、EN71,测试结果度高。X荧光光谱仪的检测结果可以和化学检测媲美,还大大节省仪器购置成本、使用成本和检测时间成本。目前X荧光光谱仪已成为企业倡导绿色生产过程中必不可少的检测工具。
根据多年的RoHS检测技术和经验,以特的产品配置、功能齐全的测试软件、友好的操作界面来满足RoHS的成分检测的需要,人性化的设计,使测试工作更加轻松完成。
性能特点
RoHS检测,亦可用于镀层检测和全元素分析
内置信噪比增强器可有效提高仪器信号处理能力25倍以上
针对不同样品可自动切换准直器和滤光片
电制冷硅针半导体探测器,摒弃液氮制冷
智能RoHS检测软件,与仪器硬件相得益彰,且操作简单
技术指标
测量元素:从硫到铀等 75 种元素
元素含量分析范围:1ppm-99.99%
RoHS 指令规定的有害元素(限 Cd/Pb/Cr/Hg/Br)检测限达 1ppm
测量时间:60-300s
能量分辨率:165±5eV
管压:5-50 kV
管流:50-1000μA
标准配置
信噪比增强器
特的光路增强系统
电制冷硅针半导体检测器
内置高清晰摄像头
自动切换准直器和滤光片
的平台
加强金属元素感度分析器
相互的基体效应校正模型
任意多个可选择的分析和识别模型
应用领域
电子电器行业,电镀行业、各种材质,塑胶,木头,玻璃等等物质中的有害元素检测
电镀行业检测

X荧光分析仪器在钢铁冶炼行业的应用
数据对比
(一)、铁矿
这里以测试标样中的普通铁矿和钒钛磁铁矿为例,V、Ti较多时称钒钛磁铁矿,含Cr较多时称铬磁铁矿。磁铁矿是钢铁工作重要的矿物原料,钛磁铁矿、钒钛磁铁矿同时也可作为提取钒钛的原料。
该技术的主要特征为:利用低能X光激发待测元素,对Si、S、Al、Na、Mg等轻元素有良好的激发效果,并且测试时间短,大大提高了检测效率和工作效率:采用UHRD探测器,具有良好的能量线性和能量分辨率,及良好的能谱特性,较高的峰背比;采用自动稳谱装置,保证了仪器工作的一致性:利用解谱技术使谱峰分解,使采用UHRD探测器的分析仪对Si、S、AI等轻元素的测试具有好的分析精度;采用多参数的线性回归方法,使元素间的吸收、排斥效应得到明显的降低。
性能特点
的水泥、钢铁、矿料等全元素分析,亦可用于镀层检测和RoHS检测。
内置信噪比增强器可有效提高仪器信号处理能力25倍。
针对不同样品可自动切换准直器和滤光片。
电制冷UHRD探测器,摒弃液氮制冷。
智能全元素分析软件,与仪器硬件相得益彰,且操作简单。
技术指标
测量元素范围:从钠(Na)至铀(U)
元素含量分析范围:1ppm—99.99%
同时分析元素:24种元素同时分析
功能范围:水泥、钢铁、矿料等全元素分析
测量对象状态:粉末、固体、液体
测量时间:60s—200s
能量分辨率为:(150±5)eV
管压:5KV—50KV
管流:50uA—1000uA
标准配置
电致冷UHRD探测器
光路增强系统
内置高清晰摄像头
可自动切换型准直器和滤光片
的升降平台
加强的金属元素感度分析器
外观尺寸: 650×608×466 mm
样品腔尺寸:315×95mm
重量:105kg
应用领域
测试高炉渣、生铁、烧结矿、球团矿、白云石、膨润土、石灰石、普硅等,还可以广泛应用于铜合金、锌合金、镁合金、钛合金、钴合金、不锈钢等金属样品的成分分析。

EDX系列特点介绍
X荧光光谱分析仪器是使用X射线照射试样,对产生的X射线荧光进行解析,用以分析试样元素和含量的装置。由于X荧光光谱仪器使用方便、快捷,精度高,成本低等特点,已经在很多行业得到广泛的应用。尤其在地质矿产行业,其应用更得到客户的认可,它们具有以下特点:
1、 分析速度高。测定用时与测定精密度有关,但一般都很短,2~5分钟就可以测完样品中的全部待测元素,并达到测量精度要求。
2、 X荧光光谱分析仪是能量色散的设备,其结构简单,可靠性高,对环境要求较低,可以使用在生产*,并对操作人员的要求也很低。维修方便,维护成本很低。
3、 它采用进口国际上的UHRD探测器,分辨率可达到128eV以上,并且不用液氮制冷,不用定期补充液氮,操作使用更加方便,并且运行成本比同类的其他产品更低。便携式Pocket系列分辨率可达到180±5eV。
4、 台式系列X荧光光谱分析仪,是一种物理分析方法,其分析与样品的化学结合状态无关。对在化学性质上属同一族的元素也能进行分析。可分析的元素范围从Na到U,便携式Pocket系列可分析元素范围从S到U。
5、 它们是非破坏分析。在测定中不会引起化学状态的改变,也不会出现试样飞散现象。同一试样可反复多次测量,结果重现性好。
6、 由于台式系列X荧光光谱分析仪产品测试过程无人为因素干扰,仪器自身分析精度、重复性与稳定性很高。所以,其测量的可靠性更高。及其系列产品的分析精度低于0.05%,检出限可高达2ppm(不同的样品其指标有所不同)。
7、 可以一次分析二十四种元素,并且同时报告结果。在实际应用中,对主元素与参考元素可以同时分析,这非常适合*生产工艺的要求,同时对产品失效快速分析提供依据。
8、 测试软件为WINDOWS操作系统软件,操作方便、功能强大,软件可仪器状态,设定仪器参数,并就有多种的分析方法,工作曲线制作方法灵活多样,方便满足不同客户不同样品的测试需要。
9、 便携式系列X荧光光谱分析仪坚固耐用、稳定可靠、使用灵活、校准方便等特点,化PDA测试软件使在测试时高灵敏度、蓝牙通讯、高速度、多模式多元素自动定性定量分析,便携、方便使用,便于客户在现场分析和原位分析。
EDX系列应用范围
台式系列和便携式系列X荧光光谱分析仪,已经在矿产行业中得到了实际广泛应用并得到客户的认可。矿产行业应用客户及应用范围如下:
测试陶瓷、古陶瓷、青铜器等,作年代和真伪坚定
测试各种矿样和实验研究
测试铁氧体材料及磁性材料配比成分
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