XRF光谱仪 维护简单的 辽阳国内X射线荧光光谱仪

XRF对贵金属检测的特优势
标准：产品符合相关行业标准和技术标准，并通过质监局等相关检验机构检验，并可以提供校准证书；
快速：对样品*前处理，一般只需要20～200秒即可判定金、银、铂、钯等含量，方便对饰品做大量抽样的检测；
：ppm级度，可靠的检测数据；
无损：测试前后，样品无任何形式的变化；
直观：实时谱图，可直观显示贵金属或有害元素含量；
简易：操作简易，*测试人员，*严格的测试条件；
安全：三重保护装置，确保安全无误；
经济：测试过程基本不需要任何耗材，降低测试与维护费用；
可靠：为化学分析提供测量依据，减少成本，提率。
饰品中有害元素指令的筛选性分析方法
国标GB/T28021中提出了针对饰品有害元素的测定采用原子吸收分光光度计(简称AAS)和电感耦合等离子体发射光谱仪(简称ICP)测试，并提供一个可以应用于XRF的测试方案。国标要求测试物品有多种产品，此类产品与人体皮肤直接接触。其代表性的物品有类。1：耳环。2：项链、手镯、手链、脚链、戒指。3：手表表壳、表链、表扣。4：按扣、搭扣、铆钉、拉链和金属标牌。5：珠宝玉石等。
按国标GB/T28020饰品中有害元素的含量可以采用XRF方法进行检测。经过X荧光光谱仪的初检后,我们可以把合格产品和不合格产品（即含量低于或**30%值的产品）区分开来，但是X荧光有一定的应用范围，它无法测试元素价态，故六价铬中我们测试的是总铬含量，如果总铬含量不**标，则六价铬的量也不**标，如果总铬含量经过XRF确定**标后，可以通过紫外分光光度计进行六价铬的定量测试。而经过XRF筛选得出来的一些怀疑产品（即含量在上下波动，无法进行确定其是否合格和不合格的产品）则必须通过有损测试的光谱仪器ICP和AAS分析进行仲裁。
另外XRF由于只是测试元素的总含量，而无法进行溶出量的检测，我们可以通过XRF测试元素总量是否**过了溶出量，如果**过溶出量，则必须通过其他光谱分析检测设备（如ICP、AAS）来确定元素的溶出量是否**过了，所以如果要的解决饰品中有害元素检测解决方案，单只靠XRF是无法全部做到的，还要进行其它分析测试.
天瑞仪器多年贵金属检测技术和经验基础之上研发的一款新型测试仪，采用新一代探测器及多道技术，实现**高计数率，1秒出结果，准确分析贵金属含量。同时，具备二维平台及高清工业摄像头，实现样品定位。（可对99.99%黄金进行有效分析）
性能特点 
快,1秒钟出结果
1、采用行业的速探测器技术——（X-SDD）分辨率至125eV
优势：探测面积大（面积达25m㎡）、单位时间内接受信息多、计数率高分辨率好
对贵金属的探测效率更高，探测信噪比更强，检出限更低
2、采用行业的数字多道技术
优势：有效提高输出效率，实现**高计数率，保证采集有效计数率**过30WCPS
3、采用大功率X光管及的准直滤光系统
优势：使贵金属的激发效率更高
4、光闸系统
优势：样品更换*关闭高压，提高测试效率与测试精度
精密的定位系统
**高清晰工业摄像头，更清晰的显示测试点
多点测试
2D全自动样品台——可实现图像联动控制，多点连续测试
**小样品检测——小可测到0.2毫米
8种准直器、4种滤光片快速切换功能，可根据不同样品进行选择
准直器小可达0.2毫米，针对**小样品可准确聚焦检测
可区分99.9%及99.99%黄金纯度
可测量贵金属中有害元素，铅、镉等
人性化的设计
更安全：X射线联动安全装置----光闸与联动装置互动；仪器外壳与高压使能端相联动
更快捷：多点测试，点哪测哪
预约预热：根据设定时间，仪器可定时开始测试
预约开机预热功能：客户可预约仪器开机时间，同时可以仪器预热并自动检测、校正仪器状态；同时可以实现预约关机，关机前可设定声光提示
技术参数
测量元素范围：硫(S)～铀(U)
检出限：分析检出限可达2ppm，薄可测试0.005μm
稳定性：0.02%
元素含量分析范围：2ppm～99.99%
探测器：X-SDD探测器，分辨率可达125eV
管流：≤1000uA
管压：5～50kV
测量时间：1s或以上(可调)
滤光片：4种滤光片自由切换
准直器：8种准直器自动切换
样品观察：高清工业摄像头
环境湿度：≤70%
环境温度：15℃～30℃
制冷方式：电制冷，*任何耗材
输入电压：交流220V±5V，建议配置交流净化稳压电源
仪器配置
X-SDD探测器
数字多道分析系统
X射线源
高低压电源
准直器滤光片系统
精密平台
光闸系统
样品观测系统
电子控制系统
计算机及喷墨打印机
应用领域
饰加工厂 
金银珠宝饰店 
贵金属冶炼厂 
质量检验部门
分析测试中心
典当行
贵金属回收

1、X射线荧光光谱法是一种现代仪器分析方法，通过X射线管产生入射X射线（一次X射线），激发被测样品；受激发的样品中的每一种元素会发出特征X射线（二次X射线）——这种特征X射线具有特定的能量和波长特性（莫塞莱定律），这些放射出来的二次X射线的能量及数量被探测系统测量，通过配套软件将这些射线信号转化为样品中各种组分元素的具体含量。
1.1 设备及试剂 
设备：X射线荧光光谱仪一台；电子天平一台（精度0.01g）；自动压片机一台（压力不小于40T）；鼓风干燥箱一台；振动磨一台；非金属样品筛（200目） 
试剂： 粉末（分析纯）；土壤标准物质；土壤样品 
1.2 样品的采集、保存和前处理 
土壤样品的采集和保持按照HJ/T166执行，样品的风干或烘干按照HJ/T166相关规定进行操作，样品研磨后过200目筛，于105℃烘干备用。 
用电子天平称量5.00g过筛（200目）的土壤标准物质或样品和12.00g粉末（镶边材质），称量误差±0.05g。然后放入压片机中压片成型，压力30T（压力范围20～30T）,保压时间30s。 
1.3 工作曲线的建立和样品分析 
设定适当的测量条件，使用EDX3200S PLUS扫描标准物质（简称标样）GSS-1～GSS-15，建立土壤标样中关注元素含量与强度的线性工作曲线。然后，对未知样品进行测量。
2. 测量及数据分析 
2.1 土壤中关注的金属元素及氧化物检出限测量 
 配有三组滤光片，根据土壤中关注元素的特性，设置测试条件。用土壤标样GSS-1-GSS-15标定仪器，建立环境土壤工作曲线。在环境土壤工作曲线下，使用高纯SiO2 做空白基体，连续测试11次，根据检出限公式： 3倍的空白基体的标准偏差除以仪器的灵敏度 
终获得测量土壤样品的方法检出限
产品名称：X荧光光谱仪 
测量元素范围：从钠（S）到铀（U）
元素含量分析范围： ppm—99.99%（不同元素，分析范围不同） 
同时分析元素：一次性可测几十种元素 
测量时间：60秒-300秒 
探测器能量分辨率为：可达125eV
管压：5KV-70KV 
管流：50μA-1000μA
测量对象状态：粉末、固体、液体
输入电压：AC 110V/220V
环境温度：15℃-30℃ 
环境湿度：35%-70%
外形尺寸：380mm×360mm×418mm 
性能特点 
**薄窗X光管，指标达到国际水平 
新的数字多道技术，让测试更快，计数率达到100000cps，精度更高。
FastSDD硅漂移探测器，良好的能量线性、能量分辨率和能谱特性，较高的峰背
自动稳谱装置保证了仪器工作的一致性
高信噪比的电子线路单元 
针对不同元素自动切换滤光片，免去手工操作带来的繁琐 
解谱技术使谱峰分解，使被测元素的测试结果具有相等的分析精度
多参数线性回归方法，使元素间的吸收、增强效应得到明显的抑制
仪器具备安全许可证，且对设备进行三重X射线屏蔽设计，保证了环境下无泄漏，让测试人员安全放心的使用
硬件联动装置，权限安全锁，保证软件失效的情况下还能对设备进行控制，保证设备在使用中的安全无放射
标准配置 
**薄窗X光管 
Fast SDD硅漂移探测器 
数字多道技术
光路增强系统 
高信噪比电子线路单元 
自动切换滤光片 
自动稳谱装置 
三重安全保护模式 
相互的基体效应校正模型 
多变量非线性回归程序

X荧光分析仪器在钢铁冶炼行业的应用
数据对比
（一）、铁矿
这里以测试标样中的普通铁矿和钒钛磁铁矿为例，V、Ti较多时称钒钛磁铁矿，含Cr较多时称铬磁铁矿。磁铁矿是钢铁工作重要的矿物原料，钛磁铁矿、钒钛磁铁矿同时也可作为提取钒钛的原料。
该技术的主要特征为：利用低能X光激发待测元素，对Si、S、Al、Na、Mg等轻元素有良好的激发效果，并且测试时间短，大大提高了检测效率和工作效率：采用UHRD探测器，具有良好的能量线性和能量分辨率，及良好的能谱特性，较高的峰背比；采用自动稳谱装置，保证了仪器工作的一致性：利用解谱技术使谱峰分解，使采用UHRD探测器的分析仪对Si、S、AI等轻元素的测试具有好的分析精度；采用多参数的线性回归方法，使元素间的吸收、排斥效应得到明显的降低。
性能特点
的水泥、钢铁、矿料等全元素分析，亦可用于镀层检测和RoHS检测。
内置信噪比增强器可有效提高仪器信号处理能力25倍。
针对不同样品可自动切换准直器和滤光片。
电制冷UHRD探测器，摒弃液氮制冷。
智能全元素分析软件，与仪器硬件相得益彰，且操作简单。
技术指标
测量元素范围：从钠（Na）至铀（U）
元素含量分析范围：1ppm—99.99%
同时分析元素：24种元素同时分析
功能范围：水泥、钢铁、矿料等全元素分析
测量对象状态：粉末、固体、液体
测量时间：60s—200s 
能量分辨率为：（150±5）eV 
管压：5KV—50KV
管流：50uA—1000uA
标准配置
电致冷UHRD探测器
光路增强系统
内置高清晰摄像头
可自动切换型准直器和滤光片
的升降平台
加强的金属元素感度分析器
外观尺寸： 650×608×466 mm
样品腔尺寸：315×95mm
重量：105kg
应用领域
测试高炉渣、生铁、烧结矿、球团矿、白云石、膨润土、石灰石、普硅等，还可以广泛应用于铜合金、锌合金、镁合金、钛合金、钴合金、不锈钢等金属样品的成分分析。

X射线荧光法检测涂料中有害元素方法
测试原理：涂料表层经X射线激发，发射出特征X射线，特征X射线的能量对应于各特定元素，涂料中元素的浓度直接决定谱线的强度。测量特征X射线的能量或波长，可进行定性分析。测量谱线强度即可进行定量分析。
测试方法：涂料中有害元素的含量可以采用X射线荧光法进行初检，但不得用于仲裁判定。
有害元素检出限的确定：
涂料中的有害元素都可以通过荧光法进行测试，如Cd元素为100ppm，可以通过荧光检测进行初步筛选扣除一些**出荧光检测范围的样品。比如仪器测试样品**过130ppm以上铅含量时，就不必要做化学分析，可以直接判定此样品不合格。而X射线荧光法检测是一种物理分析方法，其分析与样品的化学结合状态无关，所以要准确分析6价Cr可以通过二苯碳酰二肼分光光度法进行检测。
性能特点
下照式：可满足各种形状样品的测试需求
准直器和滤光片：多种准直器和滤光片的电动切换，满足各种测试方式的应用
平台：精细的手动平台，方便定位测试点
高分辨率探测器：提高分析的准确性
新一代的高压电源和X光管：性能稳定可靠，高达50W的功率实现更高的测试效率
技术指标
元素分析范围从硫（S）到铀（U）
分析检出限可达1ppm
分析含量一般为1ppm到99.99％
任意多个可选择的分析和识别模型
相互的基体效应校正模型
多变量非线性回归程序
温度适应范围为15℃至30℃
电源：交流220V±5V,建议配置交流净化稳压电源
能量分辨率：160±5eV
外观尺寸： 550×416×333mm
样品腔尺寸：460×298×98mm
重量：45Kg
标准配置
样品平台
电制冷Si-PIN探测器
信号检测电子电路
高低压电源
大功率X光管
计算机及喷墨打印机
应用领域
RoHS检测分析
地矿与合金（铜、不锈钢等）成分分析
金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定
黄金，铂，银等贵金属和各种饰的含量检测
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