XRF光谱仪 绍兴国产X射线荧光光谱仪

环保是世界的潮流，但是不断出现的环境污染事件，使人们日益关注自身的健康，关注有害元素对人的危害，**都陆续了相关控制商品中有害元素含量的法规，而且对有害元素的限制值日渐降低，例如，2006年7月1日实施的欧盟RoHS指令中铅元素限制值是1000ppm，09年实施的美国消费品安全法（简称CPSIA）,铅元素限制值降低到90ppm,面对市场需求,秉承“天瑞仪器,无微不至”的精神,采用新技术,特别设计了SUPER系列的X荧光光谱仪。
性能优势
采用特的光路设计和双引擎设计，并结合使用多组滤片和多组光管激发材的切换，大大地降低了仪器的信噪比，使该仪器在X荧光设备中具有的元素检出限。
大器稳重、准确无损
大样品腔设计，适合于不同大小和形状的样品测试。采用了多重信号的电路处理和滤波技术，使测试更加稳定准确。
自动化程度高、高清摄像头
仪器多组滤片和光路自动切换，自动升降测试盖，高清摄像头。
软件
软件，特别针对玩具指令检测的应用软件，具有高灵敏度、测试时间短、操作简易、对操作人员限制小的特点。
人性化设计
具有现代化的外观，结构和色彩，上盖电动控制开关，更人性化。
技术参数
元素分析范围：硫（S）～铀（U）
分析含量：0.1ppm～99.9%
重复性：0.1%
稳定性：0.1%
环境温度 ：15℃～30℃
电源：交流220V±5V（建议配置交流净化稳压电源）
仪器配置
**锐X光源和一样品激发机构 
上盖电动开关的大容量样品腔 
可自动切换的准直器，滤光片 
高清晰CCD摄像头 
Si-PIN探测器 
信号检测电子电路 
高低压电源 
计算机及喷墨打印机 
X荧光分析软件

X荧光光谱仪在铜检测方面的应用方案
 X荧光光谱仪用于各种金属材料中各种化学元素的成分分析。用于原材料检验，冶炼生产过程成分控制，成品元素成分定值及其它应用,以检测铜合金的炉前快速分析和成品分析，控制铜合金中的各成分含量，从而在满足客户的技术要求下控制铜的含量以降低生产成本。
该技术的主要特征为：利用低能量X射线照射测试样品，试样中的一些原子将发射具用自身特征X射线荧光，从而识别这些元素，同时无损检测其含量。天瑞仪器光谱仪采用现代的角度照射及准直器和滤光片自动组合系统，实现了分析光谱的全谱分析。设计的激发光源，使金属材料的成份分析进入了一个新的时代。的分析性能、短的分析时间、低的运行维护成本、智能化的操作模式，使样品分析简单易行。可以广泛适用于铜合金、铝合金、锌合金、镍合金、钛合金、钴合金、不锈钢等金属样品的成分分析。X荧光光谱仪是当今金属分析的选择，同时可以轻松面对未来分析的更高要求，不添加任何硬件设施，即可升级分析功能，方便灵活地随生产发展的需要增加分析的元素及合金种类。
铜的相关规定 
我国铜及铜合金标准化工作进展迅速，有关铜的标准分为类：
一为基础标准，其中GB5231—2001规定了加工铜及铜合金化学成份及产品形状；
二为化学分析方法标准，规定了铜及合金中主成份和杂质元素的化学分析方法；
三为理化性能试验方法，其中包括了电阻系数、超声波探伤、涡流探伤、残余应力、脱锌腐蚀、无氧铜含氧量、断口、晶粒度等规定方法；
         四为产品标准，其中包括阴铜、电工用铜线锭、铸造黄铜锭、铸造青铜锭、粗铜、硫酸铜、铜铍中间合金、铜中间合金、铜精矿以及铜及合金加工材标准。 
我国除标准外，还有行业标准和企业标准，为满足产品开发的需要，供需双方还可商定技术条件。

随着玩具行业的发展，玩具安全法规在全世界范围内不断完善，如欧盟的《玩具安全指令》、美国的玩具安全标准-ASTM F963、ISO中一些关于玩具安全标准。这些安全标准对于玩具企业来说，执行这些标准责无旁贷；至于说到管控成本过高的问题，其实是玩具企业没有找到合适的解决方案。
针对玩具安全检测设备，X荧光光谱仪是经济有效的检测设备，它自身灵敏、的特征决定了适合生产过程的之用。
X荧光光谱仪具有元素快速分析的功能，它可萃取玩具中重金属含量测试（铅、镉、铬、、锑、钡、、硒等）、包装物料的有元素测试、邻苯二甲酸酯类含量、EN71，测试结果度高。X荧光光谱仪的检测结果可以和化学检测媲美，还大大节省仪器购置成本、使用成本和检测时间成本。目前X荧光光谱仪已成为企业倡导绿色生产过程中必不可少的检测工具。
根据多年的RoHS检测技术和经验，以特的产品配置、功能齐全的测试软件、友好的操作界面来满足RoHS的成分检测的需要，人性化的设计，使测试工作更加轻松完成。
性能特点
RoHS检测，亦可用于镀层检测和全元素分析
内置信噪比增强器可有效提高仪器信号处理能力25倍以上
针对不同样品可自动切换准直器和滤光片
电制冷硅针半导体探测器，摒弃液氮制冷
智能RoHS检测软件，与仪器硬件相得益彰，且操作简单
技术指标
测量元素：从硫到铀等 75 种元素
元素含量分析范围：1ppm-99.99%
RoHS 指令规定的有害元素（限 Cd/Pb/Cr/Hg/Br）检测限达 1ppm
测量时间：60-300s
能量分辨率：165±5eV
管压：5-50 kV
管流：50-1000μA
标准配置
信噪比增强器
特的光路增强系统
电制冷硅针半导体检测器
内置高清晰摄像头
自动切换准直器和滤光片
的平台
加强金属元素感度分析器
相互的基体效应校正模型
任意多个可选择的分析和识别模型
应用领域
电子电器行业，电镀行业、各种材质，塑胶，木头，玻璃等等物质中的有害元素检测
电镀行业检测

X射线荧光法检测涂料中有害元素方法
测试原理：涂料表层经X射线激发，发射出特征X射线，特征X射线的能量对应于各特定元素，涂料中元素的浓度直接决定谱线的强度。测量特征X射线的能量或波长，可进行定性分析。测量谱线强度即可进行定量分析。
测试方法：涂料中有害元素的含量可以采用X射线荧光法进行初检，但不得用于仲裁判定。
有害元素检出限的确定：
涂料中的有害元素都可以通过荧光法进行测试，如Cd元素为100ppm，可以通过荧光检测进行初步筛选扣除一些**出荧光检测范围的样品。比如仪器测试样品**过130ppm以上铅含量时，就不必要做化学分析，可以直接判定此样品不合格。而X射线荧光法检测是一种物理分析方法，其分析与样品的化学结合状态无关，所以要准确分析6价Cr可以通过二苯碳酰二肼分光光度法进行检测。
性能特点
下照式：可满足各种形状样品的测试需求
准直器和滤光片：多种准直器和滤光片的电动切换，满足各种测试方式的应用
平台：精细的手动平台，方便定位测试点
高分辨率探测器：提高分析的准确性
新一代的高压电源和X光管：性能稳定可靠，高达50W的功率实现更高的测试效率
技术指标
元素分析范围从硫（S）到铀（U）
分析检出限可达1ppm
分析含量一般为1ppm到99.99％
任意多个可选择的分析和识别模型
相互的基体效应校正模型
多变量非线性回归程序
温度适应范围为15℃至30℃
电源：交流220V±5V,建议配置交流净化稳压电源
能量分辨率：160±5eV
外观尺寸： 550×416×333mm
样品腔尺寸：460×298×98mm
重量：45Kg
标准配置
样品平台
电制冷Si-PIN探测器
信号检测电子电路
高低压电源
大功率X光管
计算机及喷墨打印机
应用领域
RoHS检测分析
地矿与合金（铜、不锈钢等）成分分析
金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定
黄金，铂，银等贵金属和各种饰的含量检测
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