测量时间30秒-200秒
测量范围Na~U
是否进口否
测量精度1ppm
重量65Kg
金属合金分析仪性能特点
1.采用小功率端窗一体化微型光管,功耗小、激发效率高,结合使用大面积铍窗电致冷Si-PIN探测器,使该手持式仪器具有与台式机相近的地质矿样测试性能。
2.体积小、便携,方便野外工作。随时随地,随心所欲的现场分析和原位分析。
3.采用高分辨率(640*480)PDA作主机,结合无线蓝牙通讯的微型多道分析器技术,仪器使用方便灵活,在任何环境中,测试数据都尽在掌中。
4.仪器既可手持进行快速测试,也能使用座立式对样品进行较长时间的精细测试。
5.仪器防水防尘,可在高温高湿环境下连续使用,其保护箱采用高强度用品设计,有良好的防潮防震防压三防功能。
6.软件,针对地质矿样元素检测的应用软件,具有高灵敏度、测试时间短、操作简易,对操作人员限制很小的特点。
7.矿样类别的快速识别,多元素自动定性定量分析以及多种矿样模式选择和无限数目模式的自由添加,内置强度校正方法,可校正几何状态不同和结构密度不均匀的样品造成的偏差。
8.一块电池可使用4小时,三块原装电池装配,可选配太阳能充电器或车载式充电器,保证随时随地进行测试。
由于焊条由焊芯和皮组成,焊芯主要为金属元素,皮主要为矿物质。所需测量元素较多,需测量元素为Na、Mg、Al、Si、P、S、K、Ca、Ti、V、Cr、Mn、Fe、Co、Ni、Cu、As、Zr、Nb、Mo、Sn、Sb、Ba、Ta、Re、Pb、Bi等,其中P、S等为有害物质,对有害杂质的含量,应有严格的限制,优于母材。焊芯成分直接影响着焊缝金属的成分和性能,所以焊芯中的有害元素要尽量少。
EDX4500H X荧光光谱仪是利用XRF技术解决国内焊条公司对复杂成份、多类型榈中元素的快速、准确分析。该技术的主要特征为:利用低能X光激发待测元素,对Si、S、AI、Na、Mg等轻元素有良好的激发效果,并且测试时间短,大大提高了检测效率和工作效率; 采用UHRD探测器,具有良好的能量线性和能量分辨率,及良好的能谱特性,较高的峰背比; 采用自动稳谱装置,保证了仪器工作的一致性;利用解谱技术使谱峰分解,使采用UHRD探测器的分析仪对Si、S、AI等轻元素的测试具有和的分析精度;采用相似自动分类技术使分类更准确,有效地克服基效应对测量带来的影响;采用多参数的线性回归方法,使元素间的吸收、增强效应得到明显的消除。
测量元素范围:从钠(Na)至铀(U)
元素含量分析范围:1ppm—99.99%
同时分析元素:24种元素同时分析
测量镀层:镀层厚度测量薄至0.005微米,可分析5层以上的镀层
分析精度:0.05%
测量对象状态:粉末、固体、液体
测量时间:60s—200s
能量分辨率为:(150±5)eV
管压:5KV—50KV
管流:50uA—1000uA
2.12EDX 4500H基本参数
型号:EDX4500H
输入电压:AC 110V/220V
消耗功率:200W
环境温度:15℃-30℃
环境湿度:35%-70%
分析精度:0.05% (96%以上)
镀层厚度测量至0.01μm
测量时间:60s-200s
管压:5kV-50kV
管流:50μA-1000μA
能量分辨率为:(150±5)eV
元素含量分析范围:1ppm-99.99%
同时分析元素:24种元素同时分析
测量对象状态:粉末、固体、液体
测量元素范围:从钠(Na)至铀(U)。
焊条由焊芯及皮两部分构成。焊芯是一根具有一定直径和长度的金属丝。焊接时焊芯的作用;一是作为电,产生电弧; 二是熔化后作为填充金属,与熔化的母材一起形成焊缝。为了保证焊缝的质量与性能,对焊芯中各金属元素的含量都有严格的规定,特别是对有害杂质(如硫、磷等)的含量,应有严格的限制,优于母材。焊芯成分直接影响着焊缝金属的成分和性能,所以焊芯中的有害元素要尽量少。
涂在焊芯外面的皮,是由各种矿物质(如大理石、萤石等),铁合金和粘结剂等原料按一定比例配制而成。皮的主要作用是:使电弧容易引燃并稳定电弧燃烧;形成大量气体和熔渣以保护熔池金属不被氧化;通过熔池中冶金作用去除有害的杂质(如氧、氢、硫、磷等)和添加合金元素以提高焊缝的力学性能。
X荧光分析仪系统主要由分析仪、样品制备设备(包括振动磨、压片机)、计算机系统(主要包括主机、监视器、打印机、键盘、X荧光分析仪数据通讯接口、DCS系统通讯接口)等组成。
分析仪器的基本参数
EDX3600B X荧光光谱仪是利用XRF技术解决国内焊条公司对复杂成份、多类型榈中元素的快速、准确分析。该技术的主要特征为:利用低能X光激发待测元素,对Si、S、AI、Na、Mg等轻元素有良好的激发效果,并且测试时间短,大大提高了检测效率和工作效率; 采用UHRD探测器,具有良好的能量线性和能量分辨率,及良好的能谱特性,较高的峰背比; 采用自动稳谱装置,保证了仪器工作的一致性;利用解谱技术使谱峰分解,使采用UHRD探测器的分析仪对Si、S、AI等轻元素的测试具有和的分析精度;采用相似自动分类技术使分类更准确,有效地克服基效应对测量带来的影响;采用多参数的线性回归方法,使元素间的吸收、增强效应得到明显的消除。
测量元素范围:从钠(Na)至铀(U)
元素含量分析范围:1ppm—99.99%
同时分析元素:24种元素同时分析
测量镀层:镀层厚度测量薄至0.005微米,可分析5层以上的镀层
分析精度:0.05%
测量对象状态:粉末、固体、液体
测量时间:60s—200s
能量分辨率为:(150±5)eV
管压:5KV—50KV
管流:50uA—1000uA
XRF对合金元素检测的特优势
标准:产品符合相关行业标准和技术标准,并通过质监局等相关检验机构检验,并可以提供校准证书;
快速:对样品*前处理,一般只需要20~200秒即可判定金、银、铂、钯等含量,方便对饰品做大量抽样的检测;
:ppm级度,可靠的检测数据;
无损:测试前后,样品无任何形式的变化;
直观:实时谱图,可直观显示贵金属或有害元素含量;
简易:操作简易,*测试人员,*严格的测试条件;
安全:三重保护装置,确保安全无误;
经济:测试过程基本不需要任何耗材,降低测试与维护费用;
可靠:为化学分析提供测量依据,减少成本,提率。
固废快速检测
地矿与合金(铜、不锈钢等)成分分析
金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定
黄金、铂、银等贵金属和各种饰的含量检测
主要用于固废行业、贵金属加工和饰加工行业;银行、饰销售和检测机构;电镀行业
性能优势
下照式:可满足各种形状样品的测试需求
准直器和滤光片:多种准直器和滤光片的电动切换,满足各种测试方式的应用
平台:精细的手动平台,方便定位测试点
高分辨率探测器:提高分析的准确性
新一代的高压电源和X光管:性能稳定可靠,实现更高的测试效率
技术参数
**薄窗X光管
SDD硅漂移探测器
数字多道技术
光路增强系统
高信噪比电子线路单元
内置高清晰摄像头
自动切换型准直器和滤光片
自动稳谱装置
三重安全保护模式
可靠的整体钢架结构
90mm×70mm的状态显示液晶屏
真空泵
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