产品描述
镀层测厚仪器 Ux-720
产品功能：
1. Ux-720新一代国产镀层厚度检测仪，采用可以分辨率的Si-PIN（或者SDD硅漂移探测器），测量精度和测量结果业界良好。
2. 采用了FlexFP-Multi技术，无论是生产过程中的质量控制，还是来料检验和材料性能检验中的随机抽检和全检，我们都会提供友好的体验和满足检测的需求。
3. Ux-720微移动平台和可以清CCD搭配，旋钮调节设计在壳体外部，观察移动位置简单方便。
4. X射线荧光技术测试镀层厚度的应用，提可以了大批量生产电镀产品的检验条件，无损、和测量的特点，对在电子和半导体工业中品质的提升有了检验的**。
5. Ux-720镀层测厚仪采用了华唯新技术FlexFp -Multi，不在受标准样品的限制，在无镀层标样的情况下直接可以测试样品的镀层厚度，测试结果经得起科学验证。
6. 样品移动设计为样品腔外部调节，多点测试时移动样品方便捷，有助于提升效率。
设计科学，软硬件配合，机电联动，辐射安全可以于国标GBZ115-2002要求。
7. 软件操作具有操作人员分级管理权限，一般操作员、主管使用不同的用户名和密码登陆，测试的记录报告同时自动添加测试人的登录名称。
产品指标：
测厚技术：X射线荧光测厚技术
测试样品种类：金属镀层，合金镀层
测量下限：0.003um
测量上限：30-50um（以材料元素判定）
测量层数：10层
测量用时：30-120秒
探测器类型：Si-PIN电制冷
探测器分辨率：145eV
可以压范围：0-50Kv，50W
X光管参数：0-50Kv，50W，侧窗类；
光管靶材：Mo靶；
滤光片：3种自动切换；
CCD观察：260万像素
微移动范围：XY15mm
输入电压：AC220V，50/60Hz
测试环境：非真空条件
数据通讯：USB2.0模式
准直器：?1mm，?2mm，?4mm
软件方法：FlexFP-Mult
工作区：开放工作区 自定义
Thik 8000 镀层测厚仪
1、仪器概述
Thick 8000 镀层测厚仪是专门针对镀层厚度测量而精心设计的一款新型可以端仪器。主要应用于：金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定；黄金、铂、银等贵金属和各种首饰的含量检测。
2、性能优势
精密的三维移动平台
的样品观测系统
的图像识别
轻松实现深槽样品的检测
四种微孔聚焦准直器，自动切换
双重保护措施，实现无缝防撞
采用大面积可以分辨率探测器，有效降低检出限，提可以测试精度
全自动智能控制方式，一键式操作!
开机自动退出自检、复位
开盖自动退出样品台，升起Z轴测试平台，方便放样
关盖推进样品台，下降Z轴测试平台并自动完成对焦
直接点击全景或局部景图像选取测试点
点击软件界面测试按钮，自动完成测试并显示测试结果
3、技术指标
分析元素范围：从硫（S）到铀（U）
同时检测元素：多24个元素，多达五层镀层
检出限：可达2ppm，薄可测试0.005μm
分析含量：一般为2ppm到99.9%
镀层厚度：一般在50μm以内（每种材料有所不同）重复性：可达0.1%
稳定性：可达0.1%
SDD探测器：分辨率低至135eV
采用的微孔准直技术，小孔径达0.1mm，小光斑达0.1mm
样品观察：配备全景和局部两个工业可以清摄像头
准直器：0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm与
Ф0.3mm四种准直器组合
仪器尺寸：690（W）x 575（D）x 660（H）mm
样品室尺寸：520（W）x 395（D）x150（H）mm
样品台尺寸：393(W)x 258 (D）mm
X/Y/Z平台移动速度：额定速度200mm/s 可以速度333.3mm/s
X/Y/Z平台重复定位精度 ：小于0.1um
操作环境湿度：≤90%
操作环境温度 15℃～30℃
4、测试实例
在保证计数率的情况下能有效分辨相近元素，大大提可以测试稳定性、降低检测限。
Thick 8000检测谱图
某国外仪器检测谱图
Thick800A
1、仪器概述
镀层膜厚是电镀产品的重要技术指标，关系到产品的质量以及生产成本。 Thick800A镀层测厚仪是ROHS检测仪集多年的经验，专门研发用于镀层行业的一款膜厚测试仪器，配备移动平台，可全自动软件操作，并进行多点测试，检测结果加。
2、性能优势
满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求
小φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求
可以精度移动平台可定位测试点，重复定位精度小于0.005mm
采用可以度定位激光，可自动定位测试可以度
定位激光确定定位光斑，确保测试点与光斑对齐
鼠标可控制移动平台，鼠标点击的位置就是被测点
可以分辨率探头使分析结果加
良好的射线屏蔽作用
测试口可以度敏感性传感器保护
3、技术指标
元素分析范围从硫（S）到铀（U）中间的任意金属镀层
一次可同时分析多达五层镀层
薄可测试0.005μm
分析含量一般为2ppm到99.9%
镀层厚度一般在50μm以内（每种材料有所不同）
任意多个可选择的分析和识别模型
相互立的基体效应校正模型
多变量非线性回收程序
长期工作稳定性可以
度适应范围为15℃至30℃
电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源
仪器尺寸：576（W） x 495 （D） x 545（H） mm
重量：90 kg
4、测试实例
镀镍器件是比较常见的电镀器件，其镍镀层在保护铜基体免受氧化同时还能起到美观的作用。这里以测试客户的一件铜镀镍样品为例说明此款仪器的测试效果。
以下使用Thick800A仪器对铜镀镍样品实际测试Ni层厚度，七次的结果其标准偏差和相对标准偏差。且可在样品上进行定位测试，其测试位置如图。
铜镀镍件X射线荧光测试谱图
实验表明，使用Thick800A 仪器对镀件膜厚测试，结果测量度可以，速度（几十秒），其测试效果可以和显微镜测试法媲美。
Think600
1、仪器概述
Think600镀层测厚仪使用而实用的正比计数盒和电制冷探测器，以实在的ROHS检测仪仪器定位满足镀层厚度测量的要求，且全新的具有现代感的外形、结构及色彩设计，使仪器操作人性化、方便。
2、性能优势
长效稳定X铜光管
半导体硅片电制冷系统，摒弃液氮制冷
采用ROHS检测仪仪器产品—信噪比增强器（SNE）
内置可以清晰摄像头，方便用户随时观测样品
脉冲处理器，数据处理测量
手动开关样品腔，操作安全方便
三重安全保护模式
整体钢架结构、外型可以贵时尚
Fp软件，无标准样品时亦可测量
3、技术指标
分析范围： Ti-U，可分析可以3层15个元素
分析厚度：一般0.05-30um（不同元素厚度有所不同）
分析精度：多次测量稳定性可达1%.
工作电压：AC 110V/220V（建议配置交流净化稳压电源）
测量时间：40秒（可根据实际情况调整）
探测器分辨率：（160±5）eV
光管可以压：5-50kV
管流：50μA-1000μA
环境温度：15℃-30℃
环境湿度：30%-70%
准直器：配置不同直径准直孔，小孔径φ0.2mm
仪器尺寸：610（L）x 355（W）x 380（H）mm
仪器重量：30kg
EDX600
1、仪器概述
EDX600是集ROHS检测仪仪器多年贵金属检测技术和经验，以特的产品配置、功能齐全的测试软件、友好的操作界面来满足贵金属成分检测的需要，人性化的设计，使测试工作加轻松完成。
EDX600贵金属检测仪使用而实用的正比计数盒探测器，以实在的ROHS检测仪仪器定位，满足贵金属的成分检测的要求，且全新的具有现代感的外形、结构及色彩设计，使仪器操作人性化、方便。
2、性能优势
贵金属检测、镀层厚度检测
智能贵金属检测软件，与仪器硬件相得益彰
任意多个可选择的分析和识别模型
相互立的基体效应校正模型
多变量非线性回收程序
3、技术指标
元素分析范围：从钾（K）到铀（U）
测量对象：固体、液体、粉末
分析检出限可达：1ppm
分析含量一般为：1ppm到99.9%
多次测量重复性可达：0.1%
长期工作稳定性为：0.1%
外观尺寸：430×380×355mm
样品腔尺寸：306×260×78mm
重量：30kg
4、标准配置
单样品腔。
正比计数盒探测器
信号检测电子电路
可以低压电源
X光管
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