产品描述
x荧光测厚仪的原理：
若一个电子由轨道游离，则其他能阶的电子会自然的跳至他的位置，以达到稳定的状态，此种不同能阶转换的过程可释放出能量，即X-射线。因为各元素的每一个原子的能阶均不同，所以每一元素轨道间的能阶差也不同相同。
原子的特性由原子序来决定，亦即质子的数目或轨道中电子的数目，即特定的X-射线能量与原子序间的关系。K辐射较L辐射能量可以很多，而不同的原子序也会造成不同的能量差。
特定的X-射线可由比例计数器来侦测。当辐射撞击在比例器后，即转换为近几年的脉波。电路输出脉冲可以度与能量撞击大小成正比。由特殊物质所发出的X-射线可由其后的鉴别电路记录。
使用X-射线荧光原理测厚，将被测物置于仪器中，使待测部位受到X-射线的照射。此时，特定X-射线将由镀膜、素材及任何中间层膜产生，而检测系统将其转换为成比例的电信号，且由仪器记录下来，测量X-射线的强度可得到镀膜的厚度。
镀层测厚仪器 Ux-720
产品功能：
1. Ux-720新一代国产镀层厚度检测仪，采用可以分辨率的Si-PIN（或者SDD硅漂移探测器），测量精度和测量结果业界良好。
2. 采用了FlexFP-Multi技术，无论是生产过程中的质量控制，还是来料检验和材料性能检验中的随机抽检和全检，我们都会提供友好的体验和满足检测的需求。
3. Ux-720微移动平台和可以清CCD搭配，旋钮调节设计在壳体外部，观察移动位置简单方便。
4. X射线荧光技术测试镀层厚度的应用，提可以了大批量生产电镀产品的检验条件，无损、和测量的特点，对在电子和半导体工业中品质的提升有了检验的**。
5. Ux-720镀层测厚仪采用了华唯新技术FlexFp -Multi，不在受标准样品的限制，在无镀层标样的情况下直接可以测试样品的镀层厚度，测试结果经得起科学验证。
6. 样品移动设计为样品腔外部调节，多点测试时移动样品方便捷，有助于提升效率。
设计科学，软硬件配合，机电联动，辐射安全可以于国标GBZ115-2002要求。
7. 软件操作具有操作人员分级管理权限，一般操作员、主管使用不同的用户名和密码登陆，测试的记录报告同时自动添加测试人的登录名称。
产品指标：
测厚技术：X射线荧光测厚技术
测试样品种类：金属镀层，合金镀层
测量下限：0.003um
测量上限：30-50um（以材料元素判定）
测量层数：10层
测量用时：30-120秒
探测器类型：Si-PIN电制冷
探测器分辨率：145eV
可以压范围：0-50Kv，50W
X光管参数：0-50Kv，50W，侧窗类；
光管靶材：Mo靶；
滤光片：3种自动切换；
CCD观察：260万像素
微移动范围：XY15mm
输入电压：AC220V，50/60Hz
测试环境：非真空条件
数据通讯：USB2.0模式
准直器：?1mm，?2mm，?4mm
软件方法：FlexFP-Mult
工作区：开放工作区 自定义
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