准直器0.1mm
外形尺寸576(W)*495(D)*545(H)mm
显示方式微米
电源电压220V±5V
测量范围硫~铀
产品名称:镀层测厚仪
主要特点:
1.测量数据数字化存储、图形显示,准确、直观,测量准确度高。
2.过三十八种以上的可测量镀层,以及所有导电性镀层。丝状线材和其它异形底材镀层;
3.实时动态显示电位变化曲线、可识别和测量合金层或其它中间层;
4.自动详细分析多层镍等类似镀层的电位差值及厚度,评价其耐腐蚀性能;
5.创的测量多层镍*三电系统,不用x-y记录仪,仪器更可靠,使用更方便;
6.能分辨不同成份的镀层、评价镀层的均匀性,进而判定镀液的状况、添加剂的性能;
7.监视测量是否准确、详细分析测量数据,选择打印测量曲线和标准格式报告;
8.测量数据便于长期保存、随时调用,可以利用其它软件进行数据处理;
9.操作简便、迅速,*记忆测量种类代码等。仪器可自行检定;
10.软件免费升级,测量镀层种类不断增加。根据用户要求定制软件,或增加特别硬件。
很多金属制品以及合金饰品都会进行电镀,但是对于电镀的厚度是需要用进行测量的,合格的产品才会被销往市场上,目前国产镀层测厚仪已经发展的比较完善,现在国产镀层测厚仪的种类也是非常多的,那么国产镀层测厚仪使用时需要注意什么?
1,基体金属特性:对于磁性方法,国产镀层测厚仪的标准片应该与试件基体金属的磁性和表面粗糙度相似,所以在使用的时候国产镀层测厚仪的标准片应该具备基体金属特性这个方面;
2,基体金属厚度:国产镀层测厚仪在使用之前要检查基体金属厚度是否过临界厚度,如果没有,进行校准后可以测量;
3,边缘效应:不应在紧靠试件的突变处,使用国产镀层测厚仪的时候不应该在边缘、洞和内转角等处进行测量;
4,曲率:对于曲率的测量,不应在试件的弯曲表面上测量,使用国产镀层测厚仪的时候这一点是非常重要的,曲率的测量并不是简单的弯曲表面测量;
5,读数次数:通常国产镀层测厚仪器的每次读数并不完全相同,因此必须在每一测量面积内取几个读数,覆盖层厚度的局部差异,也要求国产镀层测厚仪在任一给定的面积内进行多次测量,表面粗造时更应如此。
此外测量的时候还需要注意被测量物品的表面清洁度,测量前,应清除表面上的任何附着物质,如尘土、油脂及腐蚀产物等,保证国产镀层测厚仪测量时周围没有任何的磁场干扰,因为磁场的干扰程度也会影响国产镀层测厚仪的时候,此外还应该注意国产都城测厚仪的测头取向,测头的放置方式对测量有影响,在测量时应该与工件保持垂直。
基于强大的研发和应用能力特别为电镀行业制定了一套有效的测试解决方案。
镀层膜厚检测:有效进行镀层厚度的产品质量管控
电镀液分析:检测电镀液成分及浓度,确保镀层质量
水质在线监测:有效监测电镀所产生的工业废水中的有害物质含量,已达到排放标准
RoHS有害元素检测:为电镀产品符合RoHS标准,严把质量关
重金属及槽液杂质检测:有效检测电镀成品,以及由电镀所产生的工业废水、废物中的重金属含量
能量色散X系列在电镀检测行业中,针对上述五项需求的应用:
(1)、对镀层膜厚检测、电镀液分析可分析;
(2)、对RoHS有害元素检测、重金属检测、槽液杂质检测、水质在线监测可进行检测,检测环境里的重金属是否标。
同时具有以下特点
:1分钟就可以测定样品镀层的厚度,并达到测量精度要求。
方便:X荧光光谱仪部分机型采用进口上的电制冷半导体探测器,能量分辨率更优于135eV,测试精度更高。并且不用液氮制冷,不用定期补充液氮,操作使用更加方便,并且运行成本比同类的其他产品更低。
无损:测试前后,样品无任何形式的变化。
直观:实时谱图,可直观显示元素含量。
测试范围广:X荧光光谱仪,是一种物理分析方法,其分析与样品的化学结合状态无关。对在化学性质上属同一族的元素也能进行分析,抽真空可以测试从Na到U。
可靠性高:由于测试过程无人为因素干扰,仪器自身分析精度、重复性与稳定性很高。所以,其测量的可靠性更高。
满足不同需求:测试软件为WINDOWS操作系统软件,操作方便、功能强大,软件可仪器状态,设定仪器参数,并就有多种的分析方法,工作曲线制作方法灵活多样,方便满足不同客户不同样品的测试需要。
性价比高:相比化学分析类仪器,X荧光光谱仪在总体使用成本上有优势的,可以让更多的企业和厂家接受。
简易:对人员技术要求较低,操作简单方便,并且维护简单方便。
五金镀层测量已成为加工工业、表面工程质量检测的重要环节,是产品达到优等质量标准的必要手段。为使产品化,我国出口商品和涉外项目中,对镀层厚度有了明确要求。
镀层厚度的测量方法主要有:楔切法,光截法,电解法,厚度差测量法,称重法,X射线荧光法,β射线反向散射法,电容法、磁性测量法及涡流测量法等等。这些方法中**种是有损检测,测量手段繁琐,速度慢,多适用于抽样检验。
五金镀层测厚仪是将X射线照射在样品上,通过从样品上反射出来的*二次X射线的强度来。测量镀层等金属薄膜的厚度,因为没有接触到样品且照射在样品上的X射线只有45-75W左右,所以不会对样品造成损坏。同时,测量的也可以在10秒到几分钟内完成。
五金镀层测厚仪测量值精度的影响因素
1.影响因素的有关说明
a基体金属磁性质
磁性法测厚受基体金属磁性变化的影响(在实际应用中,低碳钢磁性的变化可以认为是轻微的),为了避免热处理和冷加工因素的影响,应使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准;亦可用待涂覆试件进行校准。
b基体金属电性质
基体金属的电导率对测量有影响,而基体金属的电导率与其材料成分及热处理方法有关。使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准。
c基体金属厚度
每一种仪器都有一个基体金属的临界厚度。大于这个厚度,测量就不受基体金属厚度的影响。本仪器的临界厚度值见附表
d边缘效应
本仪器对试件表面形状的陡变敏感。因此在靠近试件边缘或内转角处进行测量是不可靠的。
e曲率
试件的曲率对测量有影响。这种影响总是随着曲率半径的减少明显地。因此,在弯曲试件的表面上测量是不可靠的。
f试件的变形
测头会使软覆盖层试件变形,因此在这些试件上测出可靠的数据。
g表面粗糙度
基体金属和覆盖层的表面粗糙程度对测量有影响。粗糙程度,影响。粗糙表面会引起系统误差和偶然误差,每次测量时,在不同位置上应增加测量的次数,以克服这种偶然误差。如果基体金属粗糙,还必须在未涂覆的粗糙度相类似的基体金属试件上取几个位置校对仪器的零点;或用对基体金属没有腐蚀的溶液溶解除去覆盖层后,再校对仪器的零点。
g磁场
周围各种电气设备所产生的强磁场,会严重地干扰磁性法测厚工作。
h附着
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