用于电子电器行业 金华国产金属合金分析仪

EDX4500H是一款针对于金属合金，水泥行业，矿产行业等研发出来的金属合金分析仪，内置自动转盘，可同时测试多个样品，操作简单方便
薄端窗X光管
电制冷UHRD探测器
内置高清晰摄像头
光路增强系统
可自动切换型准直器和滤光片
加强的金属元素感度分析器
外观尺寸： 510×589×350 mm
样品杯尺寸（10个）：40.7×26mm
重量：55Kg
技术指标
元素分析范围：从钠（Na）至铀（U）
元素含量分析范围：ppm—99.99%(不同材质，分析范围不同)
同时分析元素：同时可以分析30种以上元素
检测限：RoHS指令规定的有害元素（Cd/Pb/Cr/Hg/Br）检出限达ppm级
测量镀层：镀层厚度测量薄至0.005微米
测量对象状态：粉末、固体、液体
测量时间：60秒—200秒
工作温度:15℃—30℃
工作湿度：≤70%
工作电压：AC 110V/220V
应用领域
水泥检测
钢铁和有色金属检测
矿料分析
RoHS检测

焊条由焊芯及皮两部分构成。焊芯是一根具有一定直径和长度的金属丝。焊接时焊芯的作用；一是作为电，产生电弧； 二是熔化后作为填充金属，与熔化的母材一起形成焊缝。为了保证焊缝的质量与性能，对焊芯中各金属元素的含量都有严格的规定，特别是对有害杂质（如硫、磷等）的含量，应有严格的限制，优于母材。焊芯成分直接影响着焊缝金属的成分和性能，所以焊芯中的有害元素要尽量少。
涂在焊芯外面的皮，是由各种矿物质（如大理石、萤石等），铁合金和粘结剂等原料按一定比例配制而成。皮的主要作用是：使电弧容易引燃并稳定电弧燃烧；形成大量气体和熔渣以保护熔池金属不被氧化；通过熔池中冶金作用去除有害的杂质（如氧、氢、硫、磷等）和添加合金元素以提高焊缝的力学性能。
X荧光分析仪系统主要由分析仪、样品制备设备（包括振动磨、压片机）、计算机系统（主要包括主机、监视器、打印机、键盘、X荧光分析仪数据通讯接口、DCS系统通讯接口）等组成。
分析仪器的基本参数
EDX3600B X荧光光谱仪是利用XRF技术解决国内焊条公司对复杂成份、多类型榈中元素的、准确分析。该技术的主要特征为：利用低能X光激发待测元素，对Si、S、AI、Na、Mg等轻元素有良好的激发效果，并且测试时间短，大大提高了检测效率和工作效率； 采用UHRD探测器，具有良好的能量线性和能量分辨率，及良好的能谱特性，较高的峰背比； 采用自动稳谱装置，保证了仪器工作的一致性；利用解谱技术使谱峰分解，使采用UHRD探测器的分析仪对Si、S、AI等轻元素的测试具有和的分析精度；采用相似自动分类技术使分类更准确，有效地克服基效应对测量带来的影响；采用多参数的线性回归方法，使元素间的吸收、增强效应得到明显的消除。
测量元素范围：从钠（Na）至铀（U）
元素含量分析范围：1ppm—99.99% 
同时分析元素：24种元素同时分析
测量镀层：镀层厚度测量薄至0.005微米，可分析5层以上的镀层
分析精度：0.05% 
测量对象状态：粉末、固体、液体 
测量时间：60s—200s 
能量分辨率为：（150±5）eV 
管压：5KV—50KV 
管流：50uA—1000uA

金属材质分析仪主要特点：
1、该系统由电脑控制，可完成绝大多数金属材料中元素的含量测定。系统程序的编制采用目前时尚的可视化编程语言，因此系统的能强大，界面友好，系统的操作简单快捷。
2、系统在分析过程中，零点和满度自动跟随，并由电脑进行定标，保证了测量精度。
3、配备了电子天平，实现了分析过程的不定量称样，提高了系统的分析速度。
4、测试软件能齐全，能完全替代传统化验室的各项手工书写工作，并可根据各单位实际需求，任意设置检测报告格式，并可输入任意检测条件查询历史数据；各元素检测报告一次性打印，不需将C、S的检测结果分开打印。
5、仪器的关键部件---微压传感器，特别选用进口。保证了仪器的测量精度、仪器的稳定性和使用周期。
6、拥有技术的控制电，确保了仪器工作程序的可靠性。

由于焊条由焊芯和皮组成，焊芯主要为金属元素，皮主要为矿物质。所需测量元素较多，需测量元素为Na、Mg、Al、Si、P、S、K、Ca、Ti、V、Cr、Mn、Fe、Co、Ni、Cu、As、Zr、Nb、Mo、Sn、Sb、Ba、Ta、Re、Pb、Bi等，其中P、S等为有害物质，对有害杂质的含量，应有严格的限制，优于母材。焊芯成分直接影响着焊缝金属的成分和性能，所以焊芯中的有害元素要尽量少。
EDX4500H X荧光光谱仪是利用XRF技术解决国内焊条公司对复杂成份、多类型榈中元素的、准确分析。该技术的主要特征为：利用低能X光激发待测元素，对Si、S、AI、Na、Mg等轻元素有良好的激发效果，并且测试时间短，大大提高了检测效率和工作效率； 采用UHRD探测器，具有良好的能量线性和能量分辨率，及良好的能谱特性，较高的峰背比； 采用自动稳谱装置，保证了仪器工作的一致性；利用解谱技术使谱峰分解，使采用UHRD探测器的分析仪对Si、S、AI等轻元素的测试具有和的分析精度；采用相似自动分类技术使分类更准确，有效地克服基效应对测量带来的影响；采用多参数的线性回归方法，使元素间的吸收、增强效应得到明显的消除。
测量元素范围：从钠（Na）至铀（U）
元素含量分析范围：1ppm—99.99% 
同时分析元素：24种元素同时分析
测量镀层：镀层厚度测量薄至0.005微米，可分析5层以上的镀层
分析精度：0.05% 
测量对象状态：粉末、固体、液体 
测量时间：60s—200s 
能量分辨率为：（150±5）eV 
管压：5KV—50KV 
管流：50uA—1000uA
2.12EDX 4500H基本参数
型号：EDX4500H
输入电压：AC 110V/220V
消耗功率：200W
环境温度：15℃-30℃ 
环境湿度：35%-70%
分析精度：0.05% （96%以上） 
镀层厚度测量至0.01μm
测量时间：60s-200s
管压：5kV-50kV
管流：50μA-1000μA
能量分辨率为：（150±5）eV
元素含量分析范围：1ppm-99.99%
同时分析元素：24种元素同时分析 
测量对象状态：粉末、固体、液体 
测量元素范围：从钠（Na）至铀（U）。
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