吉安ROHS含量检测仪器厂家

检测元素
利用X射线检测ROHS标准规定中的元素的含量，这些元素包括：
1．铅 1000ppm以下 2． 1000ppm以下 3．镉 100ppm以下 4．六价铬 1000ppm以下 5．（PBB） 1000ppm以下 6．多溴二苯醚（PBDE） 1000ppm以下
金属材质需测试四种有害金属元素如（Cd镉/Pb铅/Hg/Cr6+六价铬）
塑胶材质除了检查这四种有害重金属元素外还需检测溴化阻燃剂（PBB/多溴联笨醚PBDE）
同时对不同材质的包装材料也需要分别进行包装材料重金属的测试（94/62/EEC)

ROHS号欧盟ROHS的区别
与**阶段出口欧洲的企业拼命更新出产设备、寻找替换供给商不同的是，近来欧洲企业正在为出口而发愁，由于他们不知道的RoHS指令中所包含的对‘产品标签’和‘强制认证’的要求到底会是怎样。”一位来自欧洲商会的会员企业代表告诉记者。
他所说的“的RoHS指令”，指的是2006年2月28日信息工业部制订的《电子信息产品污染控制治理办法》（以下简称《办法》），将于2007年3月1日正式实施，因为其所限制使用的六种物质与欧盟RoHS指令完全相同，故而也被称为“的RoHS”。此前欧洲的RoHS指令对企业进入欧盟市场带来了种种壁垒。
然而，因为双方在对产品标签的要求、对包装标识的使用、可再生材料的要求以及是否强制认证等方面存在显着差异，使得和欧洲出口型企业不得不面临来自两个RoHS指令的双重挑战。
欧盟的“自主声明”VS的“强制认证”
欧盟的RoHS指令奉行企业“自主声明”的原则，指令不要求使用尺度，不要求强制认证或标识，出产者只需通过自我认证，表示对欧盟成员国所进行的市场监视听从，声明自己的产品不含有限制使用的有害物质即可进入。
根据优化产品性能和提全防护等级的需求，应用新一代的高压电源和X光管，提高产品的可靠性；利用新X光管的大功率提高仪器的测试效率。
性能特点
下照式：可满足各种形状样品的测试需求
准直器和滤光片：多种准直器和滤光片的电动切换，满足各种测试方式的应用
平台：精细的手动平台，方便定位测试点
高分辨率探测器：提高分析的准确性
新一代的高压电源和X光管：性能稳定可靠，高达50W的功率实现更高的测试效率

RoHS指令的深远含义是执行指令多电子电器设备制作商、他们的供应链以及消费者的挑战和经济负担.在当前严峻的形式下,呼吁那些制造、分配或出售设备到欧盟的公司要测定受限物质是否存在自己的产品,如果存在,是否在可接受的浓度范围内.目前,**电器厂家均已建立各自的产品质量管理方案,以使其产品符合RoHS/WEEE指令的管制要求.
为了帮助执行**环境保,我司提供相关分析工具,包括仪器,消耗品,软件和技术支持;为了支持应对RoHS/WEEE指令,我们提供全谱直读电感耦合等离子发射光谱仪(ICP-OES)、 原子吸收光谱仪(AAS)、紫外-可见分光光度计(UV-Vis)用于分离镉、铅、、六价铬,气相色谱(GC)、气相色谱-质谱联用仪(GC-MS)用于分析多溴和多溴醚.
将全面协助您,为您提供性价比的产品和完善的解决方案,帮助您轻松应对欧盟RoHS指令.从而推出众多ROHS检测设备。
应用新一代的高压电源和X光管，提高产品的可靠性；利用新X光管的大功率提高仪器的测试效率。
应用领域
固废快速检测
地矿与合金（铜、不锈钢等）成分分析
金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定
黄金、铂、银等贵金属和各种饰的含量检测
主要用于固废行业、贵金属加工和饰加工行业；银行、饰销售和检测机构；电镀行业
性能优势
下照式：可满足各种形状样品的测试需求
准直器和滤光片：多种准直器和滤光片的电动切换，满足各种测试方式的应用
平台：精细的手动平台，方便定位测试点
高分辨率探测器：提高分析的准确性
新一代的高压电源和X光管：性能稳定可靠，实现更高的测试效率
技术参数
元素分析范围：磷（P）～铀（U）
检出限：1ppm
分析含量：ppm～99.99％
任意多个可选择的分析和识别模型
相互的基体效应校正模型
多变量非线性回归程序
环境温度：15℃～30℃
电源：交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源
能量分辨率：144±5eV
样品腔尺寸：439mm×300mm×50mm
仪器尺寸：550mm×410mm×320mm
仪器重量：45kg
仪器配置
样品平台
信噪比增强器
SDD探测器
信号检测电子电路
高低压电源
大功率X光管
计算机及喷墨打印机

分析原理
ROHS检测仪就是X射线荧光光谱仪，其分析原理也就是X射线荧光光谱仪的分析原理。X射线荧光光谱仪通常可分为两大类，波长色散X射线荧光光谱仪(WDXRF)和能量色散X射线荧光光谱仪(EDXRF)，波长色散光谱仪主要部件包括激发源、分光晶体和测角仪、探测器等，而能量色散光谱仪则只需激发源和探测器和相关电子与控制部件，相对简单。
波长色散X射线荧光光谱仪使用分析晶体分辨待测元素的分析谱线，根据Bragg定律，通过测定角度，即可获得待测元素的谱线波长：
nλ=2dsinaθ （n=1,2,3…）
式中 ，λ为分析谱线波长；d为晶体的晶格间距；θ为衍射角；n为衍射级次。利用测角仪可以测得分析谱线的衍射角，利用上式可以计算相应被分析元素的波长，从而获得待测元素的特息。
能量色散射线荧光光谱仪则采用能量探测器，通过测定由探测器收集到的电荷量，直接获得被测元素发出的特征射线能量：
Q=kE
式中，K为入射射线的光子能量；Q为探测器产生的相应电荷量；k为不同类型能量探测器的响应参数。电荷量与入射射线能量成正比，故通过测定电荷量可得到待测元素的特息。
待测元素的特征谱线需要采用一定的激发源才能获得。目前常规采用的激发源主要有射线光管和同位素激发源等。
为获得样品的定性和定量信息，除光谱仪外，还必须采用一定的样品制备技术，并对获得的强度进行相关的谱分析和数据处理。
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