昆山市周市牧亚凯机电设备商行X荧光光谱仪,ROHS环保检测仪,气相质谱分析仪,手持X荧光光谱仪,合金光谱检测仪
山西电镀镀层厚度膜厚仪
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产品描述

含量检测精度<1% 外形尺寸576(W)*495(D)*545(H) 型号Thick800A 电源电压220V±5V 测量范围0.005um
X射线的能量穿过金属镀层的同时,金属元素其电子会反射其稳定的能量波谱。通过这样的原理,设计出膜厚测试仪,又称金属镀层厚度测量仪,其不同之处为其既是薄膜厚度测试仪,也是薄膜表层金属元素分析仪,因响应**环保工艺准则,故目前市场上普遍使用的都是无损薄膜X射线荧光镀层测厚仪。
台式的荧光X射线膜厚测试仪,是通过一次X射线穿透金属元素样品时所产生低能量的光子,俗称为二次荧光,,再通过计算二次荧光的能量来计算厚度值
山西电镀镀层厚度膜厚仪
金属厚度膜厚仪工作中,高频交流信号在测头线圈中产生电磁场,测头靠近金属导体时,形成涡流。测头距离金属导电基体愈近,则涡流愈大,反射阻抗也愈大。这个反馈作用测量了测头与导电基体之间距离的大小,也就是导电基体上非导电覆层厚度的大小。由于这类测头测量非铁磁金属基材上的覆层厚度,所以通常称为非磁性测头。非磁性测头采用高频材料作为线圈铁芯,例如铂镍合金或其它新材料。与磁感应原理比较,主要区别是测头不同,信号的频率不同,信号的大小、标度关系不同。与磁感应测厚仪一样, 涡流测厚仪也达到了分辨率0.1um,允许误差1%,量程10的高水平。
覆层材料有一定的导电性,通过校准后也可准确测量,但要求两者的导电率之比至少相差3-5倍(如铜镀铬)。虽然钢铁基体为导电体,但这类材料还是采用磁性原理测量较为合适。
山西电镀镀层厚度膜厚仪
Thick800A是集多年的经验,研发用于镀层行业的一款仪器,可全自动软件操作,可多点测试,由软件控制仪器的测试点,以及平台。是一款功能强大的仪器,配上为其开发的软件,在镀层行业中可谓大展身手。
性能特点
满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求
φ0.1的小孔准直器可以满足微小测试点的需求
高精度平台可定位测试点,重复定位精度小于0.005
采用高度定位激光,可自动定位测试高度
定位激光确定定位光斑,确保测试点与光斑对齐
鼠标可控制平台,鼠标点击的位置就是被测点
高分辨率探头使分析结果更加
良好的射线屏蔽作用
测试口高度敏感性传感器保护
技术指标
型号:Thick 800A
元素分析范围从硫(S)到铀(U)。
同时可以分析30种以上元素,五层镀层。
分析含量一般为ppm到99.9% 。
镀层厚度一般在50μm以内(每种材料有所不同)
任意多个可选择的分析和识别模型。
相互的基体效应校正模型。
多变量非线性回收程序
度适应范围为15℃至30℃。
电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。
外观尺寸: 576(W)×495(D)×545(H) 
样品室尺寸:500(W)×350(D)×140(H) 
重量:90kg
膜厚仪的使用
测定准备
(1)确保电池正负方向正确无误后设定。
(2)探头的选择和设定:在探头上有电磁式和涡电流式2种类型。对准测定对象,在本体上进行设定。
山西电镀镀层厚度膜厚仪
电镀是国民经济中必不可少的基础工艺性行业,同时又是重污染行业。电镀所带来的废气、废水、废渣严重地影响人们的生活与健康。要提高电镀企业的实力就必须从企业的硬件着手。而内部管控测试是必不可少的环节,其中产品膜厚检测、RoHS有害元素检测、电镀液分析、电镀工业废水、废渣中的重金属检测和水质在线检测等更是重中之重。
镀层膜厚检测:有效进行镀层厚度的产品质量管控
电镀液分析:检测电镀液成分及浓度,确保镀层质量
水质在线监测:有效监测电镀所产生的工业废水中的有害物质含量,已达到排放标准
RoHS有害元素检测:为电镀产品符合RoHS标准,严把质量关
重金属及槽液杂质检测:有效检测电镀成品,以及由电镀所产生的工业废水、废物中的重金属含量
能量色散X荧光光谱仪系列在电镀检测行业中, 针对上述五项需求的应用:
(1)、对镀层膜厚检测、电镀液分析可分析;
(2)、对RoHS有害元素检测、重金属检测、槽液杂质检测、水质在线监测可进行快速检测,检测环境里的重金属是否**标。
同时具有以下特点
快速:1分钟就可以测定样品镀层的厚度,并达到测量精度要求。
方便:X荧光光谱仪部分机型采用进口国际上的电制冷半导体探测器,能量分辨率更优于135eV,测试精度更高。并且不用液氮制冷,不用定期补充液氮,操作使用更加方便,并且运行成本比同类的其他产品更低。
无损:测试前后,样品无任何形式的变化。
直观:实时谱图,可直观显示元素含量。
测试范围广:X荧光光谱仪,是一种物理分析方法,其分析与样品的化学结合状态无关。对在化学性质上属同一族的元素也能进行分析,抽真空可以测试从Na到U。
可靠性高:由于测试过程无人为因素干扰,仪器自身分析精度、重复性与稳定性很高。所以,其测量的可靠性更高。
SEM测膜厚度,此方法测试范围宽,适用于测量厚度0.01μm~1的金属或非金属膜层;
样品前处理与金相测厚相同,配有能谱附件(EDS)的SEM设备可以确定每一层膜层的成分。
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