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永州国产电镀表面厚度厚度仪-Cu层检测
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产品描述

含量检测精度<1% 外形尺寸576(W)*495(D)*545(H) 型号Thick800A 电源电压220V±5V 测量范围0.005um
电泳涂装在工业中广泛应用,该工艺主要是胶体颗粒在电场的作用下沉积在电极上。电泳沉积过程,又分为阴极浸涂(CDC)和阳极浸涂(ADC)。阴极浸涂也称为“电泳涂装”,它是将工件浸渍在电泳涂料槽的一种电化学涂装工艺,十分适合浸涂大批量及结构复杂的涂覆件。电泳涂装成为了保证车身防腐的标准工艺。
涂层厚度直接影响电泳涂装的许多性能:一方面,促进腐蚀物质的扩散屏障会随着涂层厚度的增加而,如水和氧;另一方面,涂层的机械阻力会随涂层厚度的减小而。解决方法是在涂装工艺中将漆膜厚度有效控制在小的允许容差范围内。
永州国产电镀表面厚度厚度仪
金属厚度膜厚仪,涂层厚度直接影响电泳涂装的许多性能:一方面,促进腐蚀蔓延的物质(如水和氧)随着涂层厚度的增加,其渗透作用被屏蔽得越多;另一方面,涂层厚度过厚,则影响涂层的机械性能。解决方法是在涂装工艺中将漆膜厚度有效控制在小的允许容差范围内。传统接触式测厚仪的重复性只有1~2 µm,很难达到微米级的允许容差范围。一般而言,使用测量设备的重复性应是允许容差范围的1/40。例如,某一涂层厚度的允许容差范围是4 µm,则仪器的重复性要求是0.1 µm。
永州国产电镀表面厚度厚度仪
我公司为客户提供技术咨询、方案设计、技术交流、产品制造、系统集成、现场勘察、工程实施、技术培训、服务热线、故障处理、、巡检等全过程、、全系列的服务。
“kuaisu、准确、到位”的服务
短交货时间
快安装
短维修周期
长保修期
个性化服务
维护费用
技术指标
分析元素范围:从硫(S)到铀(U) 
同时检测元素:多24个元素,多达五层镀层
检出限:可达2ppm,薄可测试0.005μm
分析含量:一般为2ppm到99.9% 
镀层厚度:一般在50μm以内(每种材料有所不同)重复性:可达0.1%
稳定性:可达0.1%
SDD探测器:分辨率低至135eV
采用的微孔准直技术,小孔径达0.1,小光斑达0.1
样品观察:配备全景和局部两个工业高清摄像头
准直器:0.3×0.05、Ф0.1、Ф0.2与 
Ф0.3四种准直器组合
仪器尺寸:690(W)x 575(D)x 660(H)
样品室尺寸:520(W)x 395(D)x150(H)
样品台尺寸:393(W)x 258 (D)
X/Y/Z平台速度:额定速度200/s 速度333.3/s
X/Y/Z平台重复定位精度 :小于0.1um
操作环境湿度:≤90%
操作环境温度 15℃~30℃
性能优势
精密的三维平台
的样品观测系统
的图像识别 
轻松实现深槽样品的检测
四种微孔聚焦准直器,自动切换
双重保护措施,实现无缝防撞
采用大面积高分辨率探测器,有效降低检出限,提高测试精度
全自动智能控制方式,一键式操作!
开机自动退出自检、复位 
开盖自动退出样品台,升起Z轴测试平台,方便放样 
关盖推进样品台,下降Z轴测试平台并自动完成对焦 
直接点击全景或局部景图像选取测试点 
点击软件界面测试按钮,自动完成测试并显示测试结果
金属膜厚仪主要性能:
可测量电镀、蒸镀、离子镀等各种金属镀层的厚度。
可通过CCD摄像机来观察及选择任意的微小面积以进行微小面积镀层厚度的测量,避免直接接触或破坏被测物。
薄膜FP法软件是标准配置,可同时对多层镀层及全金镀层厚度和成分进行测量。此外,适用于无铅焊锡的应用。
备有250种以上的镀层厚度测量和成分分析时所需的标准样品。
永州国产电镀表面厚度厚度仪
镀层膜厚是电镀产品的重要技术指标,关系到产品的质量以及生产成本。 Thick800A镀层测厚仪是集多年的经验,研发用于镀层行业的一款膜厚测试仪器,配备平台,可全自动软件操作,并进行多点测试,检测结果更加。
  按照标准性技术档GB/Z 20288-2006《电子电器产品中有害物质检测样品拆分通用要求》中规定:表面处理层应尽量与本体分离(镀层),对于确定无法分离的镀层,可对表面处理层进行初筛(使用X射线荧光光谱仪(XRF)手段),筛选合格则不用拆分;筛选不合格,可使用非机械方法分离(如使用能溶解表面处理层而不能溶解本体材料的化学溶剂溶剂提取额)。对镀层样品进行RoHS测试时,先用EDX1800B仪器直接进行镀层RoHS测试,如果合格则样品符合RoHS标准。如果镀层不合格将进行下步拆分测试。
满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求
φ0.1的小孔准直器可以满足微小测试点的需求
高精度平台可定位测试点,重复定位精度小于0.005
采用高度定位激光,可自动定位测试高度
定位激光确定定位光斑,确保测试点与光斑对齐
鼠标可控制平台,鼠标点击的位置就是被测点
高分辨率探头使分析结果更加
良好的射线屏蔽作用
测试口高度敏感性传感器保护
元素分析范围从硫(S)到铀(U)。
同时可以分析30种以上元素,五层镀层。
分析含量一般为ppm到99.9% 。
镀层厚度一般在50μm以内(每种材料有所不同)
任意多个可选择的分析和识别模型。
相互的基体效应校正模型。
多变量非线性回收程序
度适应范围为15℃至30℃。
电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。
外观尺寸: 576(W)×495(D)×545(H) 
样品室尺寸:500(W)×350(D)×140(H) 
重量:90kg
开放式样品腔。
精密二维样品平台,探测器和X光管上下可动,实现三维。
双激光定位装置。
铅玻璃屏蔽罩。
Si-Pin探测器。
信号检测电子电路。
高低压电源。
X光管。
高度传感器
保护传感器
计算机及喷墨打印机
膜厚仪也叫X射线测厚仪,它的原理是物质经X射线或粒子射线照射后,由于吸收多余的能量而变成不稳定的状态。从不稳定状态要回到稳定状态,此物质必需将多余的能量释放出来,而此时是以荧光或光的形态被释放出来。荧光X射线镀层厚度测量仪或成分分析仪的原理就是测量这被释放出来的荧光的能量及强度,来进行定性和定量分析。
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