准直器0.1mm
外形尺寸576(W)*495(D)*545(H)mm
显示方式微米
电源电压220V±5V
测量范围硫~铀
很多金属制品以及合金饰品都会进行电镀,但是对于电镀的厚度是需要用进行测量的,合格的产品才会被销往市场上,目前国产镀层测厚仪已经发展的比较完善,现在国产镀层测厚仪的种类也是非常多的,那么国产镀层测厚仪使用时需要注意什么?
1,基体金属特性:对于磁性方法,国产镀层测厚仪的标准片应该与试件基体金属的磁性和表面粗糙度相似,所以在使用的时候国产镀层测厚仪的标准片应该具备基体金属特性这个方面;
2,基体金属厚度:国产镀层测厚仪在使用之前要检查基体金属厚度是否**过临界厚度,如果没有,进行校准后可以测量;
3,边缘效应:不应在紧靠试件的突变处,使用国产镀层测厚仪的时候不应该在边缘、洞和内转角等处进行测量;
4,曲率:对于曲率的测量,不应在试件的弯曲表面上测量,使用国产镀层测厚仪的时候这一点是非常重要的,曲率的测量并不是简单的弯曲表面测量;
5,读数次数:通常国产镀层测厚仪器的每次读数并不完全相同,因此必须在每一测量面积内取几个读数,覆盖层厚度的局部差异,也要求国产镀层测厚仪在任一给定的面积内进行多次测量,表面粗造时更应如此。
此外测量的时候还需要注意被测量物品的表面清洁度,测量前,应清除表面上的任何附着物质,如尘土、油脂及腐蚀产物等,保证国产镀层测厚仪测量时周围没有任何的磁场干扰,因为磁场的干扰程度也会影响国产镀层测厚仪的时候,此外还应该注意国产都城测厚仪的测头取向,测头的放置方式对测量有影响,在测量时应该与工件保持垂直。
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短交货时间
快安装
短维修周期
长保修期
个性化服务
维护费用
性能优势
满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求
小φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求
高精度平台可定位测试点,重复定位精度小于0.005mm
采用高度定位激光,可自动定位测试高度
定位激光确定定位光斑,确保测试点与光斑对齐
鼠标可控制平台,鼠标点击的位置就是被测点
高分辨率探头使分析结果更加
良好的射线屏蔽作用
测试口高度敏感性传感器保护
技术指标
元素分析范围从硫(S)到铀(U)中间的任意金属镀层
一次可同时分析多达五层镀层
薄可测试0.005μm
分析含量一般为2ppm到99.9%
镀层厚度一般在50μm以内(每种材料有所不同)
任意多个可选择的分析和识别模型
相互的基体效应校正模型
多变量非线性回收程序
长期工作稳定性高
度适应范围为15℃至30℃
电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源
仪器尺寸:576(W) x 495 (D) x 545(H) mm
重量:90 kg
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基于强大的研发和应用能力特别为电镀行业制定了一套有效的测试解决方案。
镀层膜厚检测:有效进行镀层厚度的产品质量管控
电镀液分析:检测电镀液成分及浓度,确保镀层质量
水质在线监测:有效监测电镀所产生的工业废水中的有害物质含量,已达到排放标准
RoHS有害元素检测:为电镀产品符合RoHS标准,严把质量关
重金属及槽液杂质检测:有效检测电镀成品,以及由电镀所产生的工业废水、废物中的重金属含量
能量色散X系列在电镀检测行业中,针对上述五项需求的应用:
(1)、对镀层膜厚检测、电镀液分析可分析;
(2)、对RoHS有害元素检测、重金属检测、槽液杂质检测、水质在线监测可进行快速检测,检测环境里的重金属是否**标。
同时具有以下特点
快速:1分钟就可以测定样品镀层的厚度,并达到测量精度要求。
方便:X荧光光谱仪部分机型采用进口国际上的电制冷半导体探测器,能量分辨率更优于135eV,测试精度更高。并且不用液氮制冷,不用定期补充液氮,操作使用更加方便,并且运行成本比同类的其他产品更低。
无损:测试前后,样品无任何形式的变化。
直观:实时谱图,可直观显示元素含量。
测试范围广:X荧光光谱仪,是一种物理分析方法,其分析与样品的化学结合状态无关。对在化学性质上属同一族的元素也能进行分析,抽真空可以测试从Na到U。
可靠性高:由于测试过程无人为因素干扰,仪器自身分析精度、重复性与稳定性很高。所以,其测量的可靠性更高。
满足不同需求:测试软件为WINDOWS操作系统软件,操作方便、功能强大,软件可仪器状态,设定仪器参数,并就有多种的分析方法,工作曲线制作方法灵活多样,方便满足不同客户不同样品的测试需要。
性价比高:相比化学分析类仪器,X荧光光谱仪在总体使用成本上有优势的,可以让更多的企业和厂家接受。
简易:对人员技术要求较低,操作简单方便,并且维护简单方便。
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工作原理
镀层测厚仪工作原理图解
镀层测厚仪是将X射线照射在样品上,通过从样品上反射出来的*二次X射线的强度来。测量镀层等金属薄膜的厚度,因为没有接触到样品且照射在样品上的X射线只有45-75W左右,所以不会对样品造成损坏。同时,测量的也可以在10秒到几分钟内完成。
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