X荧光光谱仪 阳泉X射线荧光光谱仪

X荧光光谱仪对玻璃行业的进厂原料、玻璃成品的元素组成成份具有很好的分析效果。这里以WDX系列X荧光光谱仪对玻璃行业进厂原料（石灰石、白云石）及玻璃成品的重复性测试为例，介绍玻璃行业的应用解决方案。
（一）石灰石的重复性测试
实验条件：
阳材料：Rh；管压：45kV；管流：3.5mA；定量分析方法：经验系数法
应用领域
X 荧光检测技术具有快速、、无损的特点。X 荧光分析仪可以应用于任何需要分析Na 以上到U的元素或化合物成分分析的领域，如：电子电器〔RoHS 检测）、珠宝饰、贵金属及镀层检测）、玩具安全（EN71—3）、建材（水泥、玻璃、陶瓷）、冶金（钢铁、有色金属）、石油（微量元素S 、Pb 等）、化工、地质采矿、商品检验、质量检验甚至人体微量元素的检验等等。是常量分析和微量分析的可靠工具，在大专院校和科研单位也是常备仪器。
应用领域
X荧光光谱仪有着广泛的应用领域，如建材（水泥、玻璃、陶瓷等）、钢铁、有色金属、矿业、地质、化工、石油、质量检验、商品检验等。
应用领域
X荧光光谱仪可以广泛的应用到建材（水泥、玻璃、陶瓷等） 、钢铁、有色金属、矿业、地质、化工、石油、质量检验、商品检验、环境保护 等领域。
X荧光光谱仪
应用领域
玻璃、钢铁、有色金属检测、水泥检测、矿料分析。
X荧光光谱仪
应用领域
玻璃行业、电子电器行业、电镀行业、各种材质、塑胶、木头等等物质中的元素检测，电镀行业检测

1、X射线荧光光谱法是一种现代仪器分析方法，通过X射线管产生入射X射线（一次X射线），激发被测样品；受激发的样品中的每一种元素会发出特征X射线（二次X射线）——这种特征X射线具有特定的能量和波长特性（莫塞莱定律），这些放射出来的二次X射线的能量及数量被探测系统测量，通过配套软件将这些射线信号转化为样品中各种组分元素的具体含量。
1.1 设备及试剂 
设备：X射线荧光光谱仪一台；电子天平一台（精度0.01g）；自动压片机一台（压力不小于40T）；鼓风干燥箱一台；振动磨一台；非金属样品筛（200目） 
试剂： 粉末（分析纯）；土壤标准物质；土壤样品 
1.2 样品的采集、保存和前处理 
土壤样品的采集和保持按照HJ/T166执行，样品的风干或烘干按照HJ/T166相关规定进行操作，样品研磨后过200目筛，于105℃烘干备用。 
用电子天平称量5.00g过筛（200目）的土壤标准物质或样品和12.00g粉末（镶边材质），称量误差±0.05g。然后放入压片机中压片成型，压力30T（压力范围20～30T）,保压时间30s。 
1.3 工作曲线的建立和样品分析 
设定适当的测量条件，使用EDX3200S PLUS扫描标准物质（简称标样）GSS-1～GSS-15，建立土壤标样中关注元素含量与强度的线性工作曲线。然后，对未知样品进行测量。
2. 测量及数据分析 
2.1 土壤中关注的金属元素及氧化物检出限测量 
 配有三组滤光片，根据土壤中关注元素的特性，设置测试条件。用土壤标样GSS-1-GSS-15标定仪器，建立环境土壤工作曲线。在环境土壤工作曲线下，使用高纯SiO2 做空白基体，连续测试11次，根据检出限公式： 3倍的空白基体的标准偏差除以仪器的灵敏度 
终获得测量土壤样品的方法检出限
产品名称：X荧光光谱仪 
测量元素范围：从钠（S）到铀（U）
元素含量分析范围： ppm—99.99%（不同元素，分析范围不同） 
同时分析元素：一次性可测几十种元素 
测量时间：60秒-300秒 
探测器能量分辨率为：可达125eV
管压：5KV-70KV 
管流：50μA-1000μA
测量对象状态：粉末、固体、液体
输入电压：AC 110V/220V
环境温度：15℃-30℃ 
环境湿度：35%-70%
外形尺寸：380mm×360mm×418mm 
性能特点 
**薄窗X光管，指标达到国际水平 
新的数字多道技术，让测试更快，计数率达到100000cps，精度更高。
FastSDD硅漂移探测器，良好的能量线性、能量分辨率和能谱特性，较高的峰背
自动稳谱装置保证了仪器工作的一致性
高信噪比的电子线路单元 
针对不同元素自动切换滤光片，免去手工操作带来的繁琐 
解谱技术使谱峰分解，使被测元素的测试结果具有相等的分析精度
多参数线性回归方法，使元素间的吸收、增强效应得到明显的抑制
仪器具备安全许可证，且对设备进行三重X射线屏蔽设计，保证了环境下无泄漏，让测试人员安全放心的使用
硬件联动装置，权限安全锁，保证软件失效的情况下还能对设备进行控制，保证设备在使用中的安全无放射
标准配置 
**薄窗X光管 
Fast SDD硅漂移探测器 
数字多道技术
光路增强系统 
高信噪比电子线路单元 
自动切换滤光片 
自动稳谱装置 
三重安全保护模式 
相互的基体效应校正模型 
多变量非线性回归程序

X射线荧光法检测涂料中有害元素方法
测试原理：涂料表层经X射线激发，发射出特征X射线，特征X射线的能量对应于各特定元素，涂料中元素的浓度直接决定谱线的强度。测量特征X射线的能量或波长，可进行定性分析。测量谱线强度即可进行定量分析。
测试方法：涂料中有害元素的含量可以采用X射线荧光法进行初检，但不得用于仲裁判定。
有害元素检出限的确定：
涂料中的有害元素都可以通过荧光法进行测试，如Cd元素为100ppm，可以通过荧光检测进行初步筛选扣除一些**出荧光检测范围的样品。比如仪器测试样品**过130ppm以上铅含量时，就不必要做化学分析，可以直接判定此样品不合格。而X射线荧光法检测是一种物理分析方法，其分析与样品的化学结合状态无关，所以要准确分析6价Cr可以通过二苯碳酰二肼分光光度法进行检测。
性能特点
下照式：可满足各种形状样品的测试需求
准直器和滤光片：多种准直器和滤光片的电动切换，满足各种测试方式的应用
平台：精细的手动平台，方便定位测试点
高分辨率探测器：提高分析的准确性
新一代的高压电源和X光管：性能稳定可靠，高达50W的功率实现更高的测试效率
技术指标
元素分析范围从硫（S）到铀（U）
分析检出限可达1ppm
分析含量一般为1ppm到99.99％
任意多个可选择的分析和识别模型
相互的基体效应校正模型
多变量非线性回归程序
温度适应范围为15℃至30℃
电源：交流220V±5V,建议配置交流净化稳压电源
能量分辨率：160±5eV
外观尺寸： 550×416×333mm
样品腔尺寸：460×298×98mm
重量：45Kg
标准配置
样品平台
电制冷Si-PIN探测器
信号检测电子电路
高低压电源
大功率X光管
计算机及喷墨打印机
应用领域
RoHS检测分析
地矿与合金（铜、不锈钢等）成分分析
金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定
黄金，铂，银等贵金属和各种饰的含量检测

X荧光光谱仪具有元素快速分析的功能，它可萃取玩具中重金属含量测试（铅、镉、铬、、锑、钡、、硒等）、包装物料的有元素测试、EN71，测试结果度高。X荧光光谱仪的检测结果可以和化学检测媲美，还大大节省仪器购置成本、使用成本和检测时间成本。目前X荧光光谱仪已成为企业倡导绿色生产过程中必不可少的检测工具。
调查显示，像上述玩具厂这类情况在的玩具企业普遍存在，目前玩具安全形势不容忽视。在对一些中、小型玩具企业的采访中了解到：除了部分中小企业忽视玩具生产过程的“绿色”外，部分企业对生产过程“绿色”的成本过高感到力不从心，一台检测仪器动辄都是四五十万，甚至上百万的昂贵设备望而却步，如果再加上维护成本和使用成本，这些企业更是不堪重负。
 X荧光光谱仪是利用XRF技术解决国内水泥厂、钢铁公司对复杂成份、多类型榈中元素的快速、准确分析。该技术的主要特征为：利用低能X光激发待测元素，对Si、S、AI、Na、Mg等轻元素有良好的激发效果，并且测试时间短，大大提高了检测效率和工作效率； 采用UHRD探测器，具有良好的能量线性和能量分辨率，及良好的能谱特性，较高的峰背比； 采用自动稳谱装置，保证了仪器工作的一致性； 利用解谱技术使谱峰分解，使采用UHRD探测器的分析仪对Si、S、AI等轻元素的测试具有和的分析精度；采用相似自动分类技术使分类更准确，有效地克服基效应对测量带来的影响；采用多参数的线性回归方法，使元素间的吸收、增强效应得到明显的消除。
性能特点
的水泥、钢铁、矿料等全元素分析，亦可用于镀层检测和RoHS检测。
内置信噪比增强器可有效提高仪器信号处理能力25倍。
针对不同样品可自动切换准直器和滤光片。
电制冷UHRD探测器，摒弃液氮制冷。
智能全元素分析软件，与仪器硬件相得益彰，且操作简单。
技术指标
测量元素范围：从钠（Na）至铀（U）
元素含量分析范围：1ppm—99.99%
同时分析元素：24种元素同时分析
测量镀层：镀层厚度测量薄至0.005微米，可分析5层以上的镀层
分析精度：0.05%
测量对象状态：粉末、固体、液体
测量时间：60s—200s
能量分辨率为：（150±5）eV
管压：5KV—50KV
管流：50uA—1000uA
标准配置
电制冷UHRD探测器
信噪比增强器
光路增强系统
内置高清晰摄像头
可自动切换型准直器和滤光片
的升降平台
加强的金属元素感度分析器
应用领域
钢铁和有色金属检测
水泥检测
矿料分析
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