XRF光谱仪 益阳国内X射线荧光光谱仪

X射线荧光法检测涂料中有害元素方法
测试原理：涂料表层经X射线激发，发射出特征X射线，特征X射线的能量对应于各特定元素，涂料中元素的浓度直接决定谱线的强度。测量特征X射线的能量或波长，可进行定性分析。测量谱线强度即可进行定量分析。
测试方法：涂料中有害元素的含量可以采用X射线荧光法进行初检，但不得用于仲裁判定。
有害元素检出限的确定：
涂料中的有害元素都可以通过荧光法进行测试，如Cd元素为100ppm，可以通过荧光检测进行初步筛选扣除一些**出荧光检测范围的样品。比如仪器测试样品**过130ppm以上铅含量时，就不必要做化学分析，可以直接判定此样品不合格。而X射线荧光法检测是一种物理分析方法，其分析与样品的化学结合状态无关，所以要准确分析6价Cr可以通过二苯碳酰二肼分光光度法进行检测。
性能特点
下照式：可满足各种形状样品的测试需求
准直器和滤光片：多种准直器和滤光片的电动切换，满足各种测试方式的应用
平台：精细的手动平台，方便定位测试点
高分辨率探测器：提高分析的准确性
新一代的高压电源和X光管：性能稳定可靠，高达50W的功率实现更高的测试效率
技术指标
元素分析范围从硫（S）到铀（U）
分析检出限可达1ppm
分析含量一般为1ppm到99.99％
任意多个可选择的分析和识别模型
相互的基体效应校正模型
多变量非线性回归程序
温度适应范围为15℃至30℃
电源：交流220V±5V,建议配置交流净化稳压电源
能量分辨率：160±5eV
外观尺寸： 550×416×333mm
样品腔尺寸：460×298×98mm
重量：45Kg
标准配置
样品平台
电制冷Si-PIN探测器
信号检测电子电路
高低压电源
大功率X光管
计算机及喷墨打印机
应用领域
RoHS检测分析
地矿与合金（铜、不锈钢等）成分分析
金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定
黄金，铂，银等贵金属和各种饰的含量检测

X荧光分析仪器在钢铁冶炼行业的应用
数据对比
（一）、铁矿
这里以测试标样中的普通铁矿和钒钛磁铁矿为例，V、Ti较多时称钒钛磁铁矿，含Cr较多时称铬磁铁矿。磁铁矿是钢铁工作重要的矿物原料，钛磁铁矿、钒钛磁铁矿同时也可作为提取钒钛的原料。
该技术的主要特征为：利用低能X光激发待测元素，对Si、S、Al、Na、Mg等轻元素有良好的激发效果，并且测试时间短，大大提高了检测效率和工作效率：采用UHRD探测器，具有良好的能量线性和能量分辨率，及良好的能谱特性，较高的峰背比；采用自动稳谱装置，保证了仪器工作的一致性：利用解谱技术使谱峰分解，使采用UHRD探测器的分析仪对Si、S、AI等轻元素的测试具有好的分析精度；采用多参数的线性回归方法，使元素间的吸收、排斥效应得到明显的降低。
性能特点
的水泥、钢铁、矿料等全元素分析，亦可用于镀层检测和RoHS检测。
内置信噪比增强器可有效提高仪器信号处理能力25倍。
针对不同样品可自动切换准直器和滤光片。
电制冷UHRD探测器，摒弃液氮制冷。
智能全元素分析软件，与仪器硬件相得益彰，且操作简单。
技术指标
测量元素范围：从钠（Na）至铀（U）
元素含量分析范围：1ppm—99.99%
同时分析元素：24种元素同时分析
功能范围：水泥、钢铁、矿料等全元素分析
测量对象状态：粉末、固体、液体
测量时间：60s—200s 
能量分辨率为：（150±5）eV 
管压：5KV—50KV
管流：50uA—1000uA
标准配置
电致冷UHRD探测器
光路增强系统
内置高清晰摄像头
可自动切换型准直器和滤光片
的升降平台
加强的金属元素感度分析器
外观尺寸： 650×608×466 mm
样品腔尺寸：315×95mm
重量：105kg
应用领域
测试高炉渣、生铁、烧结矿、球团矿、白云石、膨润土、石灰石、普硅等，还可以广泛应用于铜合金、锌合金、镁合金、钛合金、钴合金、不锈钢等金属样品的成分分析。

环保是世界的潮流，但是不断出现的环境污染事件，使人们日益关注自身的健康，关注有害元素对人的危害，**都陆续了相关控制商品中有害元素含量的法规，而且对有害元素的限制值日渐降低，例如，2006年7月1日实施的欧盟RoHS指令中铅元素限制值是1000ppm，09年实施的美国消费品安全法（简称CPSIA）,铅元素限制值降低到90ppm,面对市场需求,秉承“天瑞仪器,无微不至”的精神,采用新技术,特别设计了SUPER系列的X荧光光谱仪。
性能优势
采用特的光路设计和双引擎设计，并结合使用多组滤片和多组光管激发材的切换，大大地降低了仪器的信噪比，使该仪器在X荧光设备中具有的元素检出限。
大器稳重、准确无损
大样品腔设计，适合于不同大小和形状的样品测试。采用了多重信号的电路处理和滤波技术，使测试更加稳定准确。
自动化程度高、高清摄像头
仪器多组滤片和光路自动切换，自动升降测试盖，高清摄像头。
软件
软件，特别针对玩具指令检测的应用软件，具有高灵敏度、测试时间短、操作简易、对操作人员限制小的特点。
人性化设计
具有现代化的外观，结构和色彩，上盖电动控制开关，更人性化。
技术参数
元素分析范围：硫（S）～铀（U）
分析含量：0.1ppm～99.9%
重复性：0.1%
稳定性：0.1%
环境温度 ：15℃～30℃
电源：交流220V±5V（建议配置交流净化稳压电源）
仪器配置
**锐X光源和一样品激发机构 
上盖电动开关的大容量样品腔 
可自动切换的准直器，滤光片 
高清晰CCD摄像头 
Si-PIN探测器 
信号检测电子电路 
高低压电源 
计算机及喷墨打印机 
X荧光分析软件

X荧光光谱仪具有元素快速分析的功能，它可萃取玩具中重金属含量测试（铅、镉、铬、、锑、钡、、硒等）、包装物料的有元素测试、EN71，测试结果度高。X荧光光谱仪的检测结果可以和化学检测媲美，还大大节省仪器购置成本、使用成本和检测时间成本。目前X荧光光谱仪已成为企业倡导绿色生产过程中必不可少的检测工具。
调查显示，像上述玩具厂这类情况在的玩具企业普遍存在，目前玩具安全形势不容忽视。在对一些中、小型玩具企业的采访中了解到：除了部分中小企业忽视玩具生产过程的“绿色”外，部分企业对生产过程“绿色”的成本过高感到力不从心，一台检测仪器动辄都是四五十万，甚至上百万的昂贵设备望而却步，如果再加上维护成本和使用成本，这些企业更是不堪重负。
 X荧光光谱仪是利用XRF技术解决国内水泥厂、钢铁公司对复杂成份、多类型榈中元素的快速、准确分析。该技术的主要特征为：利用低能X光激发待测元素，对Si、S、AI、Na、Mg等轻元素有良好的激发效果，并且测试时间短，大大提高了检测效率和工作效率； 采用UHRD探测器，具有良好的能量线性和能量分辨率，及良好的能谱特性，较高的峰背比； 采用自动稳谱装置，保证了仪器工作的一致性； 利用解谱技术使谱峰分解，使采用UHRD探测器的分析仪对Si、S、AI等轻元素的测试具有和的分析精度；采用相似自动分类技术使分类更准确，有效地克服基效应对测量带来的影响；采用多参数的线性回归方法，使元素间的吸收、增强效应得到明显的消除。
性能特点
的水泥、钢铁、矿料等全元素分析，亦可用于镀层检测和RoHS检测。
内置信噪比增强器可有效提高仪器信号处理能力25倍。
针对不同样品可自动切换准直器和滤光片。
电制冷UHRD探测器，摒弃液氮制冷。
智能全元素分析软件，与仪器硬件相得益彰，且操作简单。
技术指标
测量元素范围：从钠（Na）至铀（U）
元素含量分析范围：1ppm—99.99%
同时分析元素：24种元素同时分析
测量镀层：镀层厚度测量薄至0.005微米，可分析5层以上的镀层
分析精度：0.05%
测量对象状态：粉末、固体、液体
测量时间：60s—200s
能量分辨率为：（150±5）eV
管压：5KV—50KV
管流：50uA—1000uA
标准配置
电制冷UHRD探测器
信噪比增强器
光路增强系统
内置高清晰摄像头
可自动切换型准直器和滤光片
的升降平台
加强的金属元素感度分析器
应用领域
钢铁和有色金属检测
水泥检测
矿料分析
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