能量分辨率144±5eV
测量对象元素含量
测量范围N-U
测量精度1ppm
适用范围电子电器、金属、塑料、涂料
RoHS分析仪器配置:
X荧光光谱仪
对检测样品可行快速扫描,比如先用XRF仪器对样品进行粗测,发现管控元素**过控制标准或接近管控标准时,再进一步用化学方法进行确认,这种物理和化学检测相结合的形式可大大减少检测成
本,缩短检测周期,无形中提高了检测效率,对生产单位来讲,就是赢利。
1.快速分析仪器: XRF系列 可元素扫描 也可膜厚检测
1.测量元素:从钠至铀等75种元素
2.测量对象:粉末、固体、液体
3.元素含量分析范围:1ppm-99.99%
4.RoHS指令规定的有害元素(限Cd/Pb/Cr/Hg/Br)检出限达1ppm
5.测量时间:60-200s
6.能量分辨率为:140±5eV(德国产SDD探测器)
7.测量精度:<0.05%
8.管压:5-50kV
9.管流:50-1000uA
10.温度适应范围:15-30℃
11.相对温度:≤70%
12.仪器功率:≤200W
13.工作电压:AC 110V/220V
14.三维自由**大样品腔设计,样品腔尺寸Ø320 * 180mm
15.一次可同时分析24个元素
16.可测卤素
17.重量:75kg
《电子信息产品中有有害物质的检测方法》(以下简称《检测方法》,标准号为 SJ/T 11365-2006)对RoHS要求中有害元素测试方法给予了限定。其中X射线荧光光谱法(XRF)作为一种快捷、方便的方法被制定为快速筛选方法。使用X射线荧光光谱法(XRF)可对铅(Pb)、(Hg)、镉(Cd)、铬(Cr)以及溴(Br)五种元素的相应标准样品进行测试。可是基于 XRF的原理所获得的结果只是元素的含量,也就是说如果这种筛选测试得到铬(Cr)或溴(Br)的含量,即使他们**标也并不能代表有害物质(Cr VI)与阻燃剂PBB和PBDE)**标,这个测试结果(指含有)只是含有相应有害物质的必要条件而并非充分条件。这也就是限值表中没有这两种有害物质不合格的限值判断依据的原因。
RoHS适用行业
一、大型家用电器:
大型制冷器具、冰箱、冷冻箱、其它用于食品制冷、保鲜和储存的大型器具等。
二、小型家用电器:
真空吸尘器、地毯清扫机、其它清洁器具、用于缝纫、编织及其它织物加工的器具等。
三、信息和通讯设备:
数据处理器、个人计算机、打印机、复印设备、电气电子打字机、台式和袖珍计算器等。
四、消费类产品:
收音机、电视机、录象机、录音机、高录音机、功放机、音乐仪器、其他记录或声音、图象的产品或设备。
五、照明设备:
荧光灯具(家用的照明设备除外)、直型荧光灯、紧凑型荧光灯、高亮度放电灯等。
六、电气电子工具:
电钻、电锯、缝纫机,对木材、金属或其它材料进行车削、铣、砂磨、研磨、锯削、切割、剪切、钻孔、冲孔、折叠、弯曲或
类似加工的设备等。
七、玩具、休闲和运动设备:
电动火车或、手持电子游戏机、电子游戏机、用于骑自行车、潜水、跑步、划船等的测算装置;带有电子或电气元件的运动设备。
八、设备(被植入或被感染的产品除外):
放射设备、心脏用设备、装置、肺呼吸机、核设备等。
九、监测和控制仪器:
烟雾探测器、发热调节器、温控器、家用或实验室设备用测量、称重或调节器具、工业安装(如在控制板上)中所用的其它仪器。
十、自动售卖机:
热饮料自动售卖机、瓶装或罐装热饮料或冷饮料自动售卖机、固体产品自动售卖机、钱票自动售卖机、所有自动送出各类产品的器具。
说明:目前*八 、九类设备、监测和控制仪器暂不受RoHS指令限制、但是设备和设备及其零部件自2014年7月22日起应符合RoHS2.0标准要求。
X荧光分析仪器在钢铁冶炼行业的应用
数据对比
(一)、铁矿
这里以测试标样中的普通铁矿和钒钛磁铁矿为例,V、Ti较多时称钒钛磁铁矿,含Cr较多时称铬磁铁矿。磁铁矿是钢铁工作重要的矿物原料,钛磁铁矿、钒钛磁铁矿同时也可作为提取钒钛的原料。
该技术的主要特征为:利用低能X光激发待测元素,对Si、S、Al、Na、Mg等轻元素有良好的激发效果,并且测试时间短,大大提高了检测效率和工作效率:采用UHRD探测器,具有良好的能量线性和能量分辨率,及良好的能谱特性,较高的峰背比;采用自动稳谱装置,保证了仪器工作的一致性:利用解谱技术使谱峰分解,使采用UHRD探测器的分析仪对Si、S、AI等轻元素的测试具有好的分析精度;采用多参数的线性回归方法,使元素间的吸收、排斥效应得到明显的降低。
性能特点
的水泥、钢铁、矿料等全元素分析,亦可用于镀层检测和RoHS检测。
内置信噪比增强器可有效提高仪器信号处理能力25倍。
针对不同样品可自动切换准直器和滤光片。
电制冷UHRD探测器,摒弃液氮制冷。
智能全元素分析软件,与仪器硬件相得益彰,且操作简单。
技术指标
测量元素范围:从钠(Na)至铀(U)
元素含量分析范围:1ppm—99.99%
同时分析元素:24种元素同时分析
功能范围:水泥、钢铁、矿料等全元素分析
测量对象状态:粉末、固体、液体
测量时间:60s—200s
能量分辨率为:(150±5)eV
管压:5KV—50KV
管流:50uA—1000uA
标准配置
电致冷UHRD探测器
光路增强系统
内置高清晰摄像头
可自动切换型准直器和滤光片
的升降平台
加强的金属元素感度分析器
外观尺寸: 650×608×466 mm
样品腔尺寸:315×95mm
重量:105kg
应用领域
测试高炉渣、生铁、烧结矿、球团矿、白云石、膨润土、石灰石、普硅等,还可以广泛应用于铜合金、锌合金、镁合金、钛合金、钴合金、不锈钢等金属样品的成分分析。
1、X射线荧光光谱法是一种现代仪器分析方法,通过X射线管产生入射X射线(一次X射线),激发被测样品;受激发的样品中的每一种元素会发出特征X射线(二次X射线)——这种特征X射线具有特定的能量和波长特性(莫塞莱定律),这些放射出来的二次X射线的能量及数量被探测系统测量,通过配套软件将这些射线信号转化为样品中各种组分元素的具体含量。
1.1 设备及试剂
设备:X射线荧光光谱仪一台;电子天平一台(精度0.01g);自动压片机一台(压力不小于40T);鼓风干燥箱一台;振动磨一台;非金属样品筛(200目)
试剂: 粉末(分析纯);土壤标准物质;土壤样品
1.2 样品的采集、保存和前处理
土壤样品的采集和保持按照HJ/T166执行,样品的风干或烘干按照HJ/T166相关规定进行操作,样品研磨后过200目筛,于105℃烘干备用。
用电子天平称量5.00g过筛(200目)的土壤标准物质或样品和12.00g粉末(镶边材质),称量误差±0.05g。然后放入压片机中压片成型,压力30T(压力范围20~30T),保压时间30s。
1.3 工作曲线的建立和样品分析
设定适当的测量条件,使用EDX3200S PLUS扫描标准物质(简称标样)GSS-1~GSS-15,建立土壤标样中关注元素含量与强度的线性工作曲线。然后,对未知样品进行测量。
2. 测量及数据分析
2.1 土壤中关注的金属元素及氧化物检出限测量
配有三组滤光片,根据土壤中关注元素的特性,设置测试条件。用土壤标样GSS-1-GSS-15标定仪器,建立环境土壤工作曲线。在环境土壤工作曲线下,使用高纯SiO2 做空白基体,连续测试11次,根据检出限公式: 3倍的空白基体的标准偏差除以仪器的灵敏度
终获得测量土壤样品的方法检出限
产品名称:X荧光光谱仪
测量元素范围:从钠(S)到铀(U)
元素含量分析范围: ppm—99.99%(不同元素,分析范围不同)
同时分析元素:一次性可测几十种元素
测量时间:60秒-300秒
探测器能量分辨率为:可达125eV
管压:5KV-70KV
管流:50μA-1000μA
测量对象状态:粉末、固体、液体
输入电压:AC 110V/220V
环境温度:15℃-30℃
环境湿度:35%-70%
外形尺寸:380mm×360mm×418mm
性能特点
**薄窗X光管,指标达到国际水平
新的数字多道技术,让测试更快,计数率达到100000cps,精度更高。
FastSDD硅漂移探测器,良好的能量线性、能量分辨率和能谱特性,较高的峰背
自动稳谱装置保证了仪器工作的一致性
高信噪比的电子线路单元
针对不同元素自动切换滤光片,免去手工操作带来的繁琐
解谱技术使谱峰分解,使被测元素的测试结果具有相等的分析精度
多参数线性回归方法,使元素间的吸收、增强效应得到明显的抑制
仪器具备安全许可证,且对设备进行三重X射线屏蔽设计,保证了环境下无泄漏,让测试人员安全放心的使用
硬件联动装置,权限安全锁,保证软件失效的情况下还能对设备进行控制,保证设备在使用中的安全无放射
标准配置
**薄窗X光管
Fast SDD硅漂移探测器
数字多道技术
光路增强系统
高信噪比电子线路单元
自动切换滤光片
自动稳谱装置
三重安全保护模式
相互的基体效应校正模型
多变量非线性回归程序
http://skyray1013.b2b168.com