能量分辨率144±5eV
测量对象元素含量
测量范围N-U
测量精度1ppm
适用范围电子电器、金属、塑料、涂料
X射线荧光法检测涂料中有害元素方法
测试原理:涂料表层经X射线激发,发射出特征X射线,特征X射线的能量对应于各特定元素,涂料中元素的浓度直接决定谱线的强度。测量特征X射线的能量或波长,可进行定性分析。测量谱线强度即可进行定量分析。
测试方法:涂料中有害元素的含量可以采用X射线荧光法进行初检,但不得用于仲裁判定。
有害元素检出限的确定:
涂料中的有害元素都可以通过荧光法进行测试,如Cd元素为100ppm,可以通过荧光检测进行初步筛选扣除一些**出荧光检测范围的样品。比如仪器测试样品**过130ppm以上铅含量时,就不必要做化学分析,可以直接判定此样品不合格。而X射线荧光法检测是一种物理分析方法,其分析与样品的化学结合状态无关,所以要准确分析6价Cr可以通过二苯碳酰二肼分光光度法进行检测。
性能特点
下照式:可满足各种形状样品的测试需求
准直器和滤光片:多种准直器和滤光片的电动切换,满足各种测试方式的应用
平台:精细的手动平台,方便定位测试点
高分辨率探测器:提高分析的准确性
新一代的高压电源和X光管:性能稳定可靠,高达50W的功率实现更高的测试效率
技术指标
元素分析范围从硫(S)到铀(U)
分析检出限可达1ppm
分析含量一般为1ppm到99.99%
任意多个可选择的分析和识别模型
相互的基体效应校正模型
多变量非线性回归程序
温度适应范围为15℃至30℃
电源:交流220V±5V,建议配置交流净化稳压电源
能量分辨率:160±5eV
外观尺寸: 550×416×333mm
样品腔尺寸:460×298×98mm
重量:45Kg
标准配置
样品平台
电制冷Si-PIN探测器
信号检测电子电路
高低压电源
大功率X光管
计算机及喷墨打印机
应用领域
RoHS检测分析
地矿与合金(铜、不锈钢等)成分分析
金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定
黄金,铂,银等贵金属和各种饰的含量检测
1、X射线荧光光谱法是一种现代仪器分析方法,通过X射线管产生入射X射线(一次X射线),激发被测样品;受激发的样品中的每一种元素会发出特征X射线(二次X射线)——这种特征X射线具有特定的能量和波长特性(莫塞莱定律),这些放射出来的二次X射线的能量及数量被探测系统测量,通过配套软件将这些射线信号转化为样品中各种组分元素的具体含量。
1.1 设备及试剂
设备:X射线荧光光谱仪一台;电子天平一台(精度0.01g);自动压片机一台(压力不小于40T);鼓风干燥箱一台;振动磨一台;非金属样品筛(200目)
试剂: 粉末(分析纯);土壤标准物质;土壤样品
1.2 样品的采集、保存和前处理
土壤样品的采集和保持按照HJ/T166执行,样品的风干或烘干按照HJ/T166相关规定进行操作,样品研磨后过200目筛,于105℃烘干备用。
用电子天平称量5.00g过筛(200目)的土壤标准物质或样品和12.00g粉末(镶边材质),称量误差±0.05g。然后放入压片机中压片成型,压力30T(压力范围20~30T),保压时间30s。
1.3 工作曲线的建立和样品分析
设定适当的测量条件,使用EDX3200S PLUS扫描标准物质(简称标样)GSS-1~GSS-15,建立土壤标样中关注元素含量与强度的线性工作曲线。然后,对未知样品进行测量。
2. 测量及数据分析
2.1 土壤中关注的金属元素及氧化物检出限测量
配有三组滤光片,根据土壤中关注元素的特性,设置测试条件。用土壤标样GSS-1-GSS-15标定仪器,建立环境土壤工作曲线。在环境土壤工作曲线下,使用高纯SiO2 做空白基体,连续测试11次,根据检出限公式: 3倍的空白基体的标准偏差除以仪器的灵敏度
终获得测量土壤样品的方法检出限
产品名称:X荧光光谱仪
测量元素范围:从钠(S)到铀(U)
元素含量分析范围: ppm—99.99%(不同元素,分析范围不同)
同时分析元素:一次性可测几十种元素
测量时间:60秒-300秒
探测器能量分辨率为:可达125eV
管压:5KV-70KV
管流:50μA-1000μA
测量对象状态:粉末、固体、液体
输入电压:AC 110V/220V
环境温度:15℃-30℃
环境湿度:35%-70%
外形尺寸:380mm×360mm×418mm
性能特点
**薄窗X光管,指标达到国际水平
新的数字多道技术,让测试更快,计数率达到100000cps,精度更高。
FastSDD硅漂移探测器,良好的能量线性、能量分辨率和能谱特性,较高的峰背
自动稳谱装置保证了仪器工作的一致性
高信噪比的电子线路单元
针对不同元素自动切换滤光片,免去手工操作带来的繁琐
解谱技术使谱峰分解,使被测元素的测试结果具有相等的分析精度
多参数线性回归方法,使元素间的吸收、增强效应得到明显的抑制
仪器具备安全许可证,且对设备进行三重X射线屏蔽设计,保证了环境下无泄漏,让测试人员安全放心的使用
硬件联动装置,权限安全锁,保证软件失效的情况下还能对设备进行控制,保证设备在使用中的安全无放射
标准配置
**薄窗X光管
Fast SDD硅漂移探测器
数字多道技术
光路增强系统
高信噪比电子线路单元
自动切换滤光片
自动稳谱装置
三重安全保护模式
相互的基体效应校正模型
多变量非线性回归程序
X荧光光谱仪对玻璃行业的进厂原料、玻璃成品的元素组成成份具有很好的分析效果。这里以WDX系列X荧光光谱仪对玻璃行业进厂原料(石灰石、白云石)及玻璃成品的重复性测试为例,介绍玻璃行业的应用解决方案。
(一)石灰石的重复性测试
实验条件:
阳材料:Rh;管压:45kV;管流:3.5mA;定量分析方法:经验系数法
应用领域
X 荧光检测技术具有快速、、无损的特点。X 荧光分析仪可以应用于任何需要分析Na 以上到U的元素或化合物成分分析的领域,如:电子电器〔RoHS 检测)、珠宝饰、贵金属及镀层检测)、玩具安全(EN71—3)、建材(水泥、玻璃、陶瓷)、冶金(钢铁、有色金属)、石油(微量元素S 、Pb 等)、化工、地质采矿、商品检验、质量检验甚至人体微量元素的检验等等。是常量分析和微量分析的可靠工具,在大专院校和科研单位也是常备仪器。
应用领域
X荧光光谱仪有着广泛的应用领域,如建材(水泥、玻璃、陶瓷等)、钢铁、有色金属、矿业、地质、化工、石油、质量检验、商品检验等。
应用领域
X荧光光谱仪可以广泛的应用到建材(水泥、玻璃、陶瓷等) 、钢铁、有色金属、矿业、地质、化工、石油、质量检验、商品检验、环境保护 等领域。
X荧光光谱仪
应用领域
玻璃、钢铁、有色金属检测、水泥检测、矿料分析。
X荧光光谱仪
应用领域
玻璃行业、电子电器行业、电镀行业、各种材质、塑胶、木头等等物质中的元素检测,电镀行业检测
《电子信息产品中有有害物质的检测方法》(以下简称《检测方法》,标准号为 SJ/T 11365-2006)对RoHS要求中有害元素测试方法给予了限定。其中X射线荧光光谱法(XRF)作为一种快捷、方便的方法被制定为快速筛选方法。使用X射线荧光光谱法(XRF)可对铅(Pb)、(Hg)、镉(Cd)、铬(Cr)以及溴(Br)五种元素的相应标准样品进行测试。可是基于 XRF的原理所获得的结果只是元素的含量,也就是说如果这种筛选测试得到铬(Cr)或溴(Br)的含量,即使他们**标也并不能代表有害物质(Cr VI)与阻燃剂PBB和PBDE)**标,这个测试结果(指含有)只是含有相应有害物质的必要条件而并非充分条件。这也就是限值表中没有这两种有害物质不合格的限值判断依据的原因。
RoHS适用行业
一、大型家用电器:
大型制冷器具、冰箱、冷冻箱、其它用于食品制冷、保鲜和储存的大型器具等。
二、小型家用电器:
真空吸尘器、地毯清扫机、其它清洁器具、用于缝纫、编织及其它织物加工的器具等。
三、信息和通讯设备:
数据处理器、个人计算机、打印机、复印设备、电气电子打字机、台式和袖珍计算器等。
四、消费类产品:
收音机、电视机、录象机、录音机、高录音机、功放机、音乐仪器、其他记录或声音、图象的产品或设备。
五、照明设备:
荧光灯具(家用的照明设备除外)、直型荧光灯、紧凑型荧光灯、高亮度放电灯等。
六、电气电子工具:
电钻、电锯、缝纫机,对木材、金属或其它材料进行车削、铣、砂磨、研磨、锯削、切割、剪切、钻孔、冲孔、折叠、弯曲或
类似加工的设备等。
七、玩具、休闲和运动设备:
电动火车或、手持电子游戏机、电子游戏机、用于骑自行车、潜水、跑步、划船等的测算装置;带有电子或电气元件的运动设备。
八、设备(被植入或被感染的产品除外):
放射设备、心脏用设备、装置、肺呼吸机、核设备等。
九、监测和控制仪器:
烟雾探测器、发热调节器、温控器、家用或实验室设备用测量、称重或调节器具、工业安装(如在控制板上)中所用的其它仪器。
十、自动售卖机:
热饮料自动售卖机、瓶装或罐装热饮料或冷饮料自动售卖机、固体产品自动售卖机、钱票自动售卖机、所有自动送出各类产品的器具。
说明:目前*八 、九类设备、监测和控制仪器暂不受RoHS指令限制、但是设备和设备及其零部件自2014年7月22日起应符合RoHS2.0标准要求。
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