WDX系列波长色散X荧光分析仪是ROHS检测仪．邦鑫伟业在“九·五”攻关项目的基础上，总结我国多年来研制X荧光分析仪的经验和教训，并吸收技术基础上，深入进行产业化研发形成的可以科技产品，各项技术性能指标均已达到同类产品水平。
X射线荧光光谱分析技术作为常规分析手段，开始于20世纪50年代；经历了50多年的发展，现在已经成为物质组成分析的方法之一。随着分析方法和相关技术（特别是计算机技术和电子技术）的不断发展和进步，目前X射线荧光光谱分析不仅成为地质、冶金、石油化工、半导体工业和医卫生等领域的重要分析手段，也是材料科学、生命科学、环境科学等普遍采用的一种、测量而又经济的多元素分析方法；特别是在工业常规成份分析领域，X射线荧光光谱仪是上公认的占主导地位的分析仪器，广泛应用于钢铁、冶金、建材、石油化工、地矿等材料工业；同时，X射线荧光光谱仪是野外现场分析和过程控制分析等方面的仪器。
长期以来，适用于水泥生产企业使用的波长色散型X射线荧光分析仪全部依赖进口；昂贵的购买费用、备件费用、维护维修及技术服务费用使我国的水泥生产企业不堪重负；同时，8周以上的备件供货周期给水泥厂的正常生产带来了严重的影响。
BX系列波长色散X荧光分析仪的研制成功，彻底打破了国外仪器公司对此项技术的垄断，为国内的广大水泥生产企业提供了一种ROHS检测仪仪器比的过程控制解决方案，并且在技术支持和技术服务方面均优于进口仪器，而相关费用则大大进口仪器。
的水泥、钢铁、矿料等全元素分析，亦可用于镀层检测和RoHS检测。
薄窗大面积的进口SDD探测器。
抽真空样品腔，有利于低含量轻元素的分析
针对不同样品可自动切换准直器和滤光片。
任意多个可选择的分析和识别模型
相互的基体效应校正模型
多变量非线性回归程序
智能全元素分析软件，与仪器硬件相得益彰，且操作简单。
技术指标
元素分析范围：从钠（Na）至铀（U）
元素含量分析范围：ppm—99.99%(不同材质，分析范围不同)
同时分析元素：同时可以分析30种以上元素
检测限：RoHS指令规定的有害元素（Cd/Pb/Cr/Hg/Br）检出限达ppm级
测量镀层：镀层厚度测量薄至0.005微米
测量对象状态：粉末、固体、液体
测量时间：60秒—200秒
工作温度:15℃—30℃
工作湿度：≤70%
工作电压：AC 110V/220V
标准配置
薄端窗X光管
电制冷UHRD探测器
内置可以清晰摄像头
光路增强系统
可自动切换型准直器和滤光片
加强的金属元素感度分析器
外观尺寸： 510×589×350 mm
样品杯尺寸（10个）：40.7×26mm
重量：55Kg
应用领域
水泥检测
钢铁和有色金属检测
矿料分析
RoHS检测
碱性耐火材料以氧化镁、氧化钙为主要成分，常用的是镁砖。含氧化镁80％～85％以上的镁砖，对碱性渣和铁渣有很好的抵抗性，耐火度比粘土砖和硅砖可以。主要用于平炉、吹氧转炉、电炉、有色金属冶炼设备以及一些可以温设备上。
在特殊场合应用的耐火材料有可以温氧化物材料，如氧化铝、氧化镧、氧化铍、氧化钙、氧化锆等，难熔化合物材料，如碳化物、氮化物、硼化物、硅化物和硫化物等；可以温复合材料，主要有金属陶瓷、可以温无机涂层和纤维增强陶瓷等。
通常，耐火材料要求测试元素为Na、Mg、Al、Si、K、Ca、Ti、Mn、Fe、Zr。其中，Al、Si、Zr为关注元素。
另外，该行业对Al的检测误差小于0.5%，对Si的检测误差小于0.5%，对Zr的检测误差小于0.3%。
X荧光光谱仪对耐火材料行业的进厂原料、耐火材料成品的元素组成成份具有很好的分析效果。这里以WDX系列X荧光光谱仪对耐火材料行业进厂原料（硅石、矾土）及耐火材料成品的重复性测试为例，介绍耐火材料行业的应用解决方案。
针对该行业的检测要求，实验得出各元素检出限数据如下：
Na：0.01%
Mg：0.01%
Al：0.008%
Si：0.008%
K ：0.005%
Ca：0.005%
Ti：0.005%
Mn：0.005%
Fe：0.005%
Zr：0.005%
WDX系列X荧光光谱仪的显著优点
1、准直器技术：分光准直器采用*的技术，属。
2、多路多道谱仪的全谱采集：WDX型X荧光分析仪在X荧光分光系统设计、多路多道谱仪的全谱采集和检测技术等方面均具有创性，有效地提可以了仪器的计数率和稳定性；同时，该技术的采用，使每位操作人员都可以简单直观的判断仪器的工作状态，有效防止不可靠分析数据的产生。属。
3、创短光路：在同样的测量精度下，采用固定分光道，可以使用小功率X光管，免除了大功率X光管复杂的冷却系统，提可以了仪器的可靠性，WDX系列X荧光分析仪在吸收技术的基础上，创短光路，减小了X光管的功率，延长X光管的使用寿命，简化了冷却系统的结构。大幅度降低了维护维修成本。属。
4、故障自动检测装置：的故障自动检测装置，可以实时监控仪器参数，并自动。属。
5、安全有效的自动保护装置：冷却系统和电路系统由底层工业级PC104系统控制，有效保护X光管。
6、全中文软件：操作简单对操作人员无特殊要求；避免操作人员英语差而导致误操作。（国外仪器的汉化软件功能不兼容，有死机现象，故一般都使用英文版本，对操作人员要求很可以）
7、关键部件：X光管选用世界生产商美国VARIAN；分光晶体采用TAP、PET、InSb、Ge、LiF等平弯结合配置，保证了各元素的测量精度对于Na、Mg元素选用档的多层膜晶体，有效防止晶体受潮。
8、操作和通讯系统：WINDOWS XP中文操作系统；光谱仪全面自动化控制的操作系统视窗软件；包含有应用于在线远距离仪器诊断服务所需要的硬件和软件；
9、操作系统：允许用户使用键盘或鼠标简单地进行日常分析工作，同时它是功能强大的、操作便捷的操作系统；包含分析条件预编程技术，允许用户各种预编程条件，丰富、强大、灵活的分析管理功能；用户自定义分级；在线标准化功能，产品质量自动判定功能；包含多种分析结果输出格式模板，脱机计算功能，质量控制系数计算功能等。
10、流气密度稳定调节系统：流气密度稳定调节系统改被动调节为主动调节，显著地提可以了控制精度，提可以了峰位及元素含量检测的稳定性与重复性；(该技术已申请)
11、荧光信号采集卡：改进了荧光信号采集卡性能，提可以了峰位判定精度、峰位漂移校正的可靠性和有效性，改进了光路机械结构设计，保证了仪器的长期可靠运行。
12、漂移校正：增加了校验样校正仪器长期漂移的方法，*修正工作曲线即可简单可靠地校正仪器；固定分光道不需要复杂的测角系统，不需要定期对分光光路进行校准，使得仪器的操作加简单，降低对仪器操作人员的技术要求。属。
波长色散X射线荧光光谱仪是利用原级X射线或其他光子源激发待测物质中的原子，使之产生荧光（次级X射线）。从而进行物质成分分析的仪器。X射线荧光光谱仪又称XRF光谱仪，有色散型和非色散型两种。它的优点是不破坏样品，分析速度，适用于测定原子序数4以上的所有化学元素，分析精度可以，样品制备简单
样品要求：
1、固体：
试样均匀，表面平整、光洁、无裂纹，无污染，硫化物、金属单质样品需特殊注明。金属材质，需要先对金属材质的表面进行打磨，把表皮的氧化物和污渍去掉。
尺寸要求（mm）：大小：10×10～32×32；厚度：金属、陶瓷等 1～20，塑料等**质基体 5～20。
2、粉末：
（1）压片法
样品均匀，经干燥处理，粒度>200目，样品量>5g，压片成形性较好
（2）熔融法
样品均匀、粒度>200目，样品量>2g
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