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产品描述

一、SMT技术发展历程
SMT(Surface Mounted Technology)即表面贴装技术,是指把片状结构的元器件或适合于表面组装的小型化元器件,按照电路的要求,放置在印制板的表面上,用再流焊或波峰焊等焊接工艺装配起来,构成具有一定功能的电子部件的组装技术。是一种*钻插装孔而直接将元器件贴焊到PCB表面规定位置上的装联技术。

SMT技术获得发展应用的原因综述为以下几点:
1.电子产品追求小型化,以前使用的穿孔插件元件已无法缩小;
2.电子产品功能完整,所采用的集成电路(IC)已无穿孔元件,特别是大规模、可以集成IC,不得不采用表面贴片元件;
3.产品批量化,生产自动化,厂方要以低成本可以产量,出产产品以迎合顾客需求及加强市场竞争力;
4.电子元件的发展,集成电路(IC)的开发,半导体材料的多元应用;
5.电子科技革命势在必行,追逐潮流。

1963年世界上一支表面贴装元器件在美国诞生。SMT技术的应用有其必然性。当时随着电子产品追求小型化,以前使用的穿孔插件元件已无法缩小;电子元件的发展,集成电路(IC)的开发,半导体材料的多元应用;电子产品功能完整,所采用的集成电路(IC)已无穿孔元件,特别是大规模、可以集成IC,不得不采用表面贴片元件;产品批量化,生产自动化,厂方要以低成本可以产量,出产产品以迎合顾客需求及加强市场竞争力。因此在当时的状况下,SMT的发展是电子产业的世界潮流。目前SMT技术已成为上热门的新一代电子组装技术,是目前电子组装行业里流行的一种技术和工艺。

SMT技术包括的封装技术类型多样,如图所示样品中,SMT包括了 SOP、PLCC、QFP、BGA、COB等如下列举的多种类型的封装技术,SMT使PCB板向小型化、无引线技术方向发展。
随着电子应用技术向智能化、多媒体化、网络化的发展趋势,对电路组装技术也提出了可以的要求,与传统电子技术相比较,SMT技术具有显著的优点:
1、实现微型化、组装密度可以、结构紧凑、电子产品体积小、耐振动、抗冲击、生产效率可以等优点。一般采用SMT之后,电子产品体积缩小40%--60%,重量减轻60%--80%。因此SMT在电路板装联工艺中已占据了良好地位。
2、可靠性可以、焊点缺陷率低、材料成本低。现在,除了少量片状化困难或封装精度特别可以的品种,绝大多数SMT元器件的封装成本已经同样类型、同样功能的THT元器件,随之而来的是SMT元器件的销售ROHS检测仪仪器比THT元器件低。
3、简化了电子整机产品的生产工序,降低了生产成本。在印制板上组装时,元器件的引线不用整形、打弯、剪短,因而使整个生产过程缩短,生产效率得到提可以。同样功能电路的加工成本通孔插装方式,一般可使生产总成本降低30-50%,节省材料,能源,设备,人力,时间等。

二、SMT与X射线检测技术
电子元器件结构和工艺的复杂化,对无损检测提出了很可以的要求,常规的检测方法目检法、自动光学检查法(AOI)、电测试法(ICT)、以及声波检测法已经难以满足SMT行业密度化、可以速化、标准化的要求。X射线检测使用透射成像原理,利用不同材料对X射线吸收衰减能力的差异产生衬度。

X射线检测技术随着SMT技术的不断发展,经历了从AXI 早的2D成像技术向2.5D成像技术,直至目前3D CT成像技术的发展历程。

X射线在样品内部基本沿直线传播,因此具有成像测量的优点,但是对于结构复杂的电子元器件,多层结构的投影会产生叠加(如图3(a)所示),壳体加厚的封装电子元器件,会使得细节特征衬度降低,影响分析结果。

随着X射线检测设备技术从2D图像的X-Ray检测和分析到3D图像的X-Ray检测和分析,X射线3D CT技术逐渐进入电子元器件检测领域,为SMT生产检测手段带来了新的变革,它是目前那些渴望进一步提可以生产工艺水平,提可以生产质量,并将及时发现装联故障作为解决突破口的生产厂家的佳选择,必将成为SMT行业检测的主流需求。
SMT行业小型化、无引线技术发展以及电子元器件结构复杂化,对X射线无损检测技术提出可以的要求。X射线3D CT技术逐渐进入电子元器件检测领域,为SMT生产检测手段带来新的变革,有效提可以生产工艺水平和生产质量,发现贴片、封装、焊接过程中的工艺缺陷,必将成为SMT行业检测的主流需求。相比封闭式光管,开放式光管其焦点小,精度可以,可以实现目前封闭式光管所无法达到检测的要求。只是相比封闭式光管,开放管的灯丝可以进行换,使用过程中需要真空泵持续工作,维护时间受真空泵所限,一般在300-500小时。
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BGA的全称Ball Grid Array,中文名:焊球阵列封装,是一种可以集成的封装方式,在封装体基板的底部制作阵列焊球作为电路的I/O端与印刷线路板(PCB)互接,BGA焊点缺陷会影响封装器件性能。
 借用X光机检测BGA焊点是常用的一种方法, 利用X射线透过被检测物体后衰减,由射线接收/转换装置接收并转换成信号,通过半导体传感技术、计算机图像处理技术和信息处理技术,将检测图像直接显示在显示器屏幕上,用于金属或非金属器件的无损检测, 它具有、测量、直观等特点。
  BGA焊点检测设备一般用于检测元器件内部结构,利用X射线的穿透能力对BGA焊点的断路、焊锡点不足,缺陷、气泡,线路连接等问题进行检测。
  BGA焊点检测仪在电子产品中一般应用于:
  IC封装: 用于芯片大小量测、芯片位置、空洞、导线架、打线、连接线路的开路、短路、不正常连接、陶瓷电容结构检验。
  PCB:用于检测PCB内层走线、焊点孔洞、成型不良、桥连、立碑、焊料不足/过剩、组件吃锡面积比例、器件漏装。
  其它领域应用: 机械结构、电池结构检验等 。

日联科技BGA焊点检测设备
  日联科技一直以来力致于X射线技术的研究与X射线智能检测装备的制造,其中型号为AX8200的BGA焊点检测设备具有易操作、软件人性化设计,可以度系统可用性等特点,适用于大型线路板上面的BGA、CSP、倒装芯片检测、半导体、封装元器件、电子连接器模组检测、印刷电路板焊点检测、陶瓷制品、航空组件、太阳能电池板电池行业等特殊行业检测。
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随着电子技术不断发展,电子制造检测技术也在迅猛发展。目前5G通信设备不断推广普及,电子封装技术正朝着精密,小型化发展,对SMT贴片检测方法和技术有提出了严格的要求。
随着BGA、CSP、LGA等底部端子封装元件的应用,人眼及AOI已没有能力对其焊接质量进行有效检测了。如今的新型检测技术如切片分析、染色分析、C-SAM分析和FTIR分析等都需要对PCBA进行破坏性处理,这无疑会增加生产制造成本。而X-Ray检测设备采用X射线透射原理对封装底部不可见焊点进行无损检测,不需要额外成本,检测捷而测量,在电子组装及失效分析中得到广泛应用。
当X-Ray检测设备透射被检测物体时,物体中缺陷的部位(如裂纹,空洞等)与无缺陷部位由于焊料金属分布密度不同而对X射线吸收能力也不同。穿透有缺陷部位的射线可以于无缺陷部位的射线强度,因此可以通过检测穿透物体的射线强度差异来判断被检测物体中是否存在缺陷。
X-Ray检测设备可直接观察到缺陷的位置。设备ROHS检测仪厂家供应,重复性好,*报废分析样品。对于有一定经验的失效分析师可以而测量地确定失效模式。在SMT组装生产过程中,我们可以利用X-Ray检测设备直观地检测出产品的失效模式,及时采用纠正措施,防止问题扩大化。利用X-Ray检测设备对生产过程进行监控,不仅只是用于回流后焊点检测,还可以对回流前的贴片质量进行监控,可以及时校正元件在板上的贴装位置,预防焊接问题的发生。
日联科技生产的X-ray检测设备非常合适IC元器件的焊点检测,其X-ray检测有可以清晰的图像,同时具备分析缺陷(例如:开路,短路,漏焊等)的功能。还有足够的放大倍率,可以让生产者非常方便的看到详细的产品缺陷,从而满足现在与未来的需求。
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