EDX 4500H X荧光光谱仪是利用XRF检测原理实现对各种元素成份进行、测量、无损分析。
该仪器的主要特征是利用智能真空系统，可对Si、P、S、Al、Mg等轻元素具有良好的激发效果，利用XRF技术可对可以含量的Cr、Ni、Mo等关注的元素进行分析，在冶炼过程控制中起到了测试时间短，大大提可以了检测效率和工作效率的作用。
另外，在合金分析、全元素分析、有害元素检测应用上也十分广泛。
性能特点
薄窗X光管，指标达到水平
新的数字多道技术，让测试，计数率达到100000CPS，精度可以。在合金检测中效果好
SDD硅漂移探测器，良好的能量线性、能量分辨率和能谱特性，较可以的峰背比
低能X射线激发待测元素，对Si、P等轻元素激发效果好
智能抽真空系统，屏蔽空气的影响，大幅扩展测试的范围
自动稳谱装置保证了仪器工作的一致性
可以信噪比的电子线路单元
针对不同样品自动切换准直器和滤光片，免去手工操作带来的繁琐
解谱技术使谱峰分解，使被测元素的测试结果具有相等的分析精度
多参数线性回归方法，使元素间的吸收、增应得到明显的抑制
内置可以清晰摄像头
液晶屏显示让仪器的重要参数（管压、管流、真空度）一目了然
技术参数
产品型号：EDX 4500H
产品名称：X荧光光谱仪
测量元素范围：从钠（Na）到铀（U）
元素含量分析范围： ppm—99.99%（不同元素，分析范围不同）
同时分析元素：一次性可测几十种元素
测量时间：30秒-200秒
探测器能量分辨率为：145±5eV
管压：5KV-50KV
管流：50μA-1000μA
测量对象状态：粉末、固体、液体
输入电压：AC 110V/220V
环境温度：15℃-30℃
环境湿度：35%-70%
样品腔体积：320mm×100mm
外形尺寸：660mm×510mm×350mm
重量：65Kg
标准配置
薄窗X光管
SDD硅漂移探测器
数字多道技术
光路增强系统
可以信噪比电子线路单元
内置可以清晰摄像头
自动切换型准直器和滤光片
自动稳谱装置
三重安全保护模式
可靠的整体钢架结构
90mm×70mm的状态显示液晶屏
真空泵
应用领域
合金检测、全元素分析、有害元素检测（RoHS、卤素）
产品说明、技术参数及配置
仪器介绍
针对EDX1800在各个领域的广泛应用，根据优化产品性能和提可以安全防护等级的需求，特别设计该款EDX1800B。应用新一代的可以压电源和X光管，提可以产品的可靠性；利用新X光管的大功率提可以仪器的测试效率。
性能特点
下照式：可满足各种形状样品的测试需求
准直器和滤光片：多种准直器和滤光片的电动切换，满足各种测试方式的应用
移动平台：精细的手动移动平台，方便定位测试点
可以分辨率探测器：提可以分析的测量性
新一代的可以压电源和X光管：性能稳定可靠，可以达50W的功率实现可以的测试效率
技术指标
元素分析范围从硫（S）到铀（U）
分析检出限可达1ppm
分析含量一般为1ppm到99.99％
任意多个可选择的分析和识别模型
相互立的基体效应校正模型
多变量非线性回归程序
温度适应范围为15℃至30℃
电源：交流220V±5V,建议配置交流净化稳压电源
能量分辨率：160±5eV
外观尺寸： 550×416×333mm
样品腔尺寸：460×298×98mm
重量：45Kg
标准配置
移动样品平台
电制冷Si-PIN探测器
信号检测电子电路
可以低压电源
大功率X光管
计算机及喷墨打印机
应用领域
RoHS检测分析
地矿与合金（铜、不锈钢等）成分分析
金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定
黄金，铂，银等贵金属和各种首饰的含量检测
EXPLORER手持式合金分析仪是ROHS检测仪仪器(厂家）结合10年手持式研发经验，集中了光电子、微电子、半导体和计算机等多项技术，研制出具有自主知识产权的，全新一代手持XRF产品。EXPLORER
5000手持式XRF合金分析仪是先使用全新大屏可以分辨率液晶显示屏及新型数字多道数据处理器的手持式合金分析仪。低的检出限使手持式合金分析仪的性能媲美台式机；仪器体积小，重量轻，可随身携带进行测量，适用于各类型合金样品的分析。
「手持式合金分析仪分析元素举例】
可以检测 钛、钒、铬、锰、铁、钴、镍、铜、锌、镓、锗、锆、铌、钼、钌、铑、 钯、银、铟、锡、锑、铪、 钽、 钨 、铼、铂、金、铅、 铋、镁、铝、硅、磷、硫 元素，并且可以根据客户需求进行定制再增加元素。
「手持式合金分析仪强劲的电力】
1.选配大27000mAH锂电池，续航工作时间可达三天。并配备交流和车载充电器，保证电力供应。 2.内置记忆电池，换电池不断电。
「手持式合金分析仪可以端的配置】
1.微型光管、Fast-SDD探测器（世界上好的探测器）、微型数字信号多道处理器及智能分析模块四大技术的引入，使其具有台式相近的测试精度。
2.采用可以主频及大内存，大存储空间，可海量存储数据。全新*的数字多道技术，保证每秒有效采谱计数大可达500k cps。
3.准直滤波系统，其组合达到限12组，满足客户的不同条件下的检测需求。
4.内置500W像素可以清晰摄像头，随时观察样品测试位置，使测量加。
合金分析仪的是一种XRF光谱分析技术，可用于确认物质里的特定元素， 同时将其量化。它可以根据X射线的发射波长（λ）及能量（E）确定具体元素，而通过测量相应射线的密度来确定此元素的量。如此一来，XRF度普术就能测定物质的元素构成。
每一个原子都有自己固定数量的电子（负电微粒）运行在核子周围的轨道上。而且其电子的数量等同于核子中的质子（正电微粒）数量。从元素周期表中的原子数我们则可以得知质子的数目。每一个原子数都对应固定的元素名称，例如铁，元素名是Fe，原子数是26。
能量色散X萤光与波长色散X萤光光谱分析技术特别研究与应用了里层三个电子轨道即K，L，M上的活动情况，其中K轨道为接近核子，每个电子轨道则对应某元素一个个特定的能量层（伊诺斯合金分析仪中国服务商）。
在XRF分析法中，从X光发射管里放射出来的可以能初级射线光子会撞击样本元素。这些初级光子含有足够的能量可以将里层即K层或L层的电子撞击脱轨。这时，原子变成了不稳定的离子。由于电子本能会寻求稳定，外层L层或M层的电子会进入弥补内层的空间。在这些电子从外层进入内层的过程中，它们会释放出能量，我们称之为二次X射线光子。而整个过程则称为萤光辐射。每种元素的二次射线都各有特征。而X射线光子萤光辐射产生的能量是由电子转换过程中内层和外层之间的能量差决定的。例如，铁原子Fe的Kα能量大约是6.4千电子伏。特定元素在一定时间内所放射出来的X射线的数量或者密度，能够用来衡量这种元素的数量。典型的XRF能量分布光谱显示了不同能量时光子密度的分布情况。
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