微小型电机轴承 承德金属合金分析仪

由于焊条由焊芯和皮组成，焊芯主要为金属元素，皮主要为矿物质。所需测量元素较多，需测量元素为Na、Mg、Al、Si、P、S、K、Ca、Ti、V、Cr、Mn、Fe、Co、Ni、Cu、As、Zr、Nb、Mo、Sn、Sb、Ba、Ta、Re、Pb、Bi等，其中P、S等为有害物质，对有害杂质的含量，应有严格的限制，优于母材。焊芯成分直接影响着焊缝金属的成分和性能，所以焊芯中的有害元素要尽量少。
EDX4500H X荧光光谱仪是利用XRF技术解决国内焊条公司对复杂成份、多类型榈中元素的快速、准确分析。该技术的主要特征为：利用低能X光激发待测元素，对Si、S、AI、Na、Mg等轻元素有良好的激发效果，并且测试时间短，大大提高了检测效率和工作效率； 采用UHRD探测器，具有良好的能量线性和能量分辨率，及良好的能谱特性，较高的峰背比； 采用自动稳谱装置，保证了仪器工作的一致性；利用解谱技术使谱峰分解，使采用UHRD探测器的分析仪对Si、S、AI等轻元素的测试具有和的分析精度；采用相似自动分类技术使分类更准确，有效地克服基效应对测量带来的影响；采用多参数的线性回归方法，使元素间的吸收、增强效应得到明显的消除。
测量元素范围：从钠（Na）至铀（U）
元素含量分析范围：1ppm—99.99% 
同时分析元素：24种元素同时分析
测量镀层：镀层厚度测量薄至0.005微米，可分析5层以上的镀层
分析精度：0.05% 
测量对象状态：粉末、固体、液体 
测量时间：60s—200s 
能量分辨率为：（150±5）eV 
管压：5KV—50KV 
管流：50uA—1000uA
2.12EDX 4500H基本参数
型号：EDX4500H
输入电压：AC 110V/220V
消耗功率：200W
环境温度：15℃-30℃ 
环境湿度：35%-70%
分析精度：0.05% （96%以上） 
镀层厚度测量至0.01μm
测量时间：60s-200s
管压：5kV-50kV
管流：50μA-1000μA
能量分辨率为：（150±5）eV
元素含量分析范围：1ppm-99.99%
同时分析元素：24种元素同时分析 
测量对象状态：粉末、固体、液体 
测量元素范围：从钠（Na）至铀（U）。

由于合金具有许多优于**属的特性，故在实际生产，生活的材料应用中大多使用合金材料。并且为便于合金材料的使用，**均根据本国的实际情况对合金材料依据其所具有的物理性能（如比重、熔点、导电性、导热性、热膨胀性、磁性等）、化学性能（耐用腐蚀性、抗氧化性），力学性能（机械性能）制定了符合本国实际应用的合号。在实际应用中，设计师只需要根据设计需要选用适当牌号的合金材料即可。
根据优化产品性能和提高安全防护等级的需求，应用新一代的高压电源和X光管，提高产品的可靠性；利用新X光管的大功率提高仪器的测试效率。
 应用领域
固废快速检测
地矿与合金（铜、不锈钢等）成分分析
金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定
黄金、铂、银等贵金属和各种饰的含量检测
主用于固废行业、贵金属加工和饰加工行业；银行、饰销售和检测机构；电镀行业
性能优势
下照式：可满足各种形状样品的测试需求
准直器和滤光片：多种准直器和滤光片的电动切换，满足各种测试方式的应用
平台：精细的手动平台，方便定位测试点
高分辨率探测器：提高分析的准确性
新一代的高压电源和X光管：性能稳定可靠，实现更高的测试效率
技术参数
元素分析范围：磷（P）～铀（U）
检出限：1ppm
分析含量：ppm～99.99％
任意多个可选择的分析和识别模型
相互的基体效应校正模型
多变量非线性回归程序
环境温度：15℃～30℃
电源：交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源
能量分辨率：144±5eV
样品腔尺寸：439mm×300mm×50mm
仪器尺寸：550mm×410mm×320mm
仪器重量：45kg
仪器配置
样品平台
信噪比增强器
SDD探测器
信号检测电子电路
高低压电源
大功率X光管
计算机及喷墨打印机

焊条由焊芯及皮两部分构成。焊芯是一根具有一定直径和长度的金属丝。焊接时焊芯的作用；一是作为电，产生电弧； 二是熔化后作为填充金属，与熔化的母材一起形成焊缝。为了保证焊缝的质量与性能，对焊芯中各金属元素的含量都有严格的规定，特别是对有害杂质（如硫、磷等）的含量，应有严格的限制，优于母材。焊芯成分直接影响着焊缝金属的成分和性能，所以焊芯中的有害元素要尽量少。
涂在焊芯外面的皮，是由各种矿物质（如大理石、萤石等），铁合金和粘结剂等原料按一定比例配制而成。皮的主要作用是：使电弧容易引燃并稳定电弧燃烧；形成大量气体和熔渣以保护熔池金属不被氧化；通过熔池中冶金作用去除有害的杂质（如氧、氢、硫、磷等）和添加合金元素以提高焊缝的力学性能。
X荧光分析仪系统主要由分析仪、样品制备设备（包括振动磨、压片机）、计算机系统（主要包括主机、监视器、打印机、键盘、X荧光分析仪数据通讯接口、DCS系统通讯接口）等组成。
分析仪器的基本参数
EDX3600B X荧光光谱仪是利用XRF技术解决国内焊条公司对复杂成份、多类型榈中元素的快速、准确分析。该技术的主要特征为：利用低能X光激发待测元素，对Si、S、AI、Na、Mg等轻元素有良好的激发效果，并且测试时间短，大大提高了检测效率和工作效率； 采用UHRD探测器，具有良好的能量线性和能量分辨率，及良好的能谱特性，较高的峰背比； 采用自动稳谱装置，保证了仪器工作的一致性；利用解谱技术使谱峰分解，使采用UHRD探测器的分析仪对Si、S、AI等轻元素的测试具有和的分析精度；采用相似自动分类技术使分类更准确，有效地克服基效应对测量带来的影响；采用多参数的线性回归方法，使元素间的吸收、增强效应得到明显的消除。
测量元素范围：从钠（Na）至铀（U）
元素含量分析范围：1ppm—99.99% 
同时分析元素：24种元素同时分析
测量镀层：镀层厚度测量薄至0.005微米，可分析5层以上的镀层
分析精度：0.05% 
测量对象状态：粉末、固体、液体 
测量时间：60s—200s 
能量分辨率为：（150±5）eV 
管压：5KV—50KV 
管流：50uA—1000uA

金属合金分析仪新型测试仪，采用新一代探测器及多道技术，实现**高计数率，1秒出结果，准确分析贵金属含量。同时，具备二维平台及高清工业摄像头，实现样品定位。（可对99.99%黄金进行有效分析）
性能特点 
快,1秒钟出结果
1、采用行业的速探测器技术——（X-SDD）分辨率至125eV
优势：探测面积大（面积达25m㎡）、单位时间内接受信息多、计数率高分辨率好
对贵金属的探测效率更高，探测信噪比更强，检出限更低
2、采用行业的数字多道技术
优势：有效提高输出效率，实现**高计数率，保证采集有效计数率**过30WCPS
3、采用大功率X光管及的准直滤光系统
优势：使贵金属的激发效率更高
4、光闸系统
优势：样品更换*关闭高压，提高测试效率与测试精度
精密的定位系统
**高清晰工业摄像头，更清晰的显示测试点
多点测试
2D全自动样品台——可实现图像联动控制，多点连续测试
**小样品检测——小可测到0.2毫米
8种准直器、4种滤光片快速切换功能，可根据不同样品进行选择
准直器小可达0.2毫米，针对**小样品可准确聚焦检测
可区分99.9%及99.99%黄金纯度
可测量贵金属中有害元素，铅、镉等
人性化的设计
更安全：X射线联动安全装置----光闸与联动装置互动；仪器外壳与高压使能端相联动
更快捷：多点测试，点哪测哪
预约预热：根据设定时间，仪器可定时开始测试
预约开机预热功能：客户可预约仪器开机时间，同时可以仪器预热并自动检测、校正仪器状态；同时可以实现预约关机，关机前可设定声光提示
应用领域
饰加工厂 
金银珠宝饰店 
贵金属冶炼厂 
质量检验部门
分析测试中心
典当行
贵金属回收
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