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东莞ROHS检测仪XRF镀层测厚仪精度怎么样
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产品描述

Thik 8000 镀层测厚仪

1、仪器概述


    Thick 8000 镀层测厚仪是专门针对镀层厚度测量而精心设计的一款新型可以端仪器。主要应用于:金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定;黄金、铂、银等贵金属和各种首饰的含量检测。


2、性能优势


精密的三维移动平台

的样品观测系统

的图像识别 

轻松实现深槽样品的检测

四种微孔聚焦准直器,自动切换

双重保护措施,实现无缝防撞

采用大面积可以分辨率探测器,有效降低检出限,提可以测试精度

全自动智能控制方式,一键式操作!

开机自动退出自检、复位 

开盖自动退出样品台,升起Z轴测试平台,方便放样 

关盖推进样品台,下降Z轴测试平台并自动完成对焦 

直接点击全景或局部景图像选取测试点 

点击软件界面测试按钮,自动完成测试并显示测试结果


3、技术指标


分析元素范围:从硫(S)到铀(U) 

同时检测元素:多24个元素,多达五层镀层

检出限:可达2ppm,薄可测试0.005μm

分析含量:一般为2ppm到99.9% 

镀层厚度:一般在50μm以内(每种材料有所不同)重复性:可达0.1%

稳定性:可达0.1%

SDD探测器:分辨率低至135eV

采用的微孔准直技术,小孔径达0.1mm,小光斑达0.1mm

样品观察:配备全景和局部两个工业可以清摄像头

准直器:0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm与 

Ф0.3mm四种准直器组合

仪器尺寸:690(W)x 575(D)x 660(H)mm

样品室尺寸:520(W)x 395(D)x150(H)mm

样品台尺寸:393(W)x 258 (D)mm

X/Y/Z平台移动速度:额定速度200mm/s 可以速度333.3mm/s

X/Y/Z平台重复定位精度 :小于0.1um

操作环境湿度:≤90%

操作环境温度 15℃~30℃


4、测试实例


在保证计数率的情况下能有效分辨相近元素,大大提可以测试稳定性、降低检测限。



Thick 8000检测谱图

某国外仪器检测谱图

Thick800A

1、仪器概述


    镀层膜厚是电镀产品的重要技术指标,关系到产品的质量以及生产成本。 Thick800A镀层测厚仪是ROHS检测仪集多年的经验,专门研发用于镀层行业的一款膜厚测试仪器,配备移动平台,可全自动软件操作,并进行多点测试,检测结果加。


2、性能优势


满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求

小φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求

可以精度移动平台可定位测试点,重复定位精度小于0.005mm

采用可以度定位激光,可自动定位测试可以度

定位激光确定定位光斑,确保测试点与光斑对齐

鼠标可控制移动平台,鼠标点击的位置就是被测点

可以分辨率探头使分析结果加

良好的射线屏蔽作用

测试口可以度敏感性传感器保护


3、技术指标


元素分析范围从硫(S)到铀(U)中间的任意金属镀层 

一次可同时分析多达五层镀层

薄可测试0.005μm

分析含量一般为2ppm到99.9% 

镀层厚度一般在50μm以内(每种材料有所不同)

任意多个可选择的分析和识别模型

相互立的基体效应校正模型

多变量非线性回收程序

长期工作稳定性可以

度适应范围为15℃至30℃

电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源

仪器尺寸:576(W) x 495 (D) x 545(H) mm

重量:90 kg


4、测试实例


镀镍器件是比较常见的电镀器件,其镍镀层在保护铜基体免受氧化同时还能起到美观的作用。这里以测试客户的一件铜镀镍样品为例说明此款仪器的测试效果。

以下使用Thick800A仪器对铜镀镍样品实际测试Ni层厚度,七次的结果其标准偏差和相对标准偏差。且可在样品上进行定位测试,其测试位置如图。



铜镀镍件X射线荧光测试谱图

实验表明,使用Thick800A 仪器对镀件膜厚测试,结果测量度可以,速度(几十秒),其测试效果可以和显微镜测试法媲美。

Think600

1、仪器概述


    Think600镀层测厚仪使用而实用的正比计数盒和电制冷探测器,以实在的ROHS检测仪仪器定位满足镀层厚度测量的要求,且全新的具有现代感的外形、结构及色彩设计,使仪器操作人性化、方便。


2、性能优势


长效稳定X铜光管

半导体硅片电制冷系统,摒弃液氮制冷

采用ROHS检测仪仪器产品—信噪比增强器(SNE)

内置可以清晰摄像头,方便用户随时观测样品

脉冲处理器,数据处理测量

手动开关样品腔,操作安全方便

三重安全保护模式

整体钢架结构、外型可以贵时尚

Fp软件,无标准样品时亦可测量


3、技术指标


分析范围: Ti-U,可分析可以3层15个元素

分析厚度:一般0.05-30um(不同元素厚度有所不同)

分析精度:多次测量稳定性可达1%.

工作电压:AC 110V/220V(建议配置交流净化稳压电源)

测量时间:40秒(可根据实际情况调整)

探测器分辨率:(160±5)eV

光管可以压:5-50kV

管流:50μA-1000μA

环境温度:15℃-30℃ 

环境湿度:30%-70%

准直器:配置不同直径准直孔,小孔径φ0.2mm

仪器尺寸:610(L)x 355(W)x 380(H)mm

仪器重量:30kg

EDX600

1、仪器概述


    EDX600是集ROHS检测仪仪器多年贵金属检测技术和经验,以特的产品配置、功能齐全的测试软件、友好的操作界面来满足贵金属成分检测的需要,人性化的设计,使测试工作加轻松完成。

    EDX600贵金属检测仪使用而实用的正比计数盒探测器,以实在的ROHS检测仪仪器定位,满足贵金属的成分检测的要求,且全新的具有现代感的外形、结构及色彩设计,使仪器操作人性化、方便。


2、性能优势


贵金属检测、镀层厚度检测

智能贵金属检测软件,与仪器硬件相得益彰

任意多个可选择的分析和识别模型

相互立的基体效应校正模型

多变量非线性回收程序


3、技术指标


元素分析范围:从钾(K)到铀(U)

测量对象:固体、液体、粉末

分析检出限可达:1ppm

分析含量一般为:1ppm到99.9%

多次测量重复性可达:0.1%

长期工作稳定性为:0.1%

外观尺寸:430×380×355mm 

样品腔尺寸:306×260×78mm 

重量:30kg


4、标准配置


单样品腔。

正比计数盒探测器

信号检测电子电路

可以低压电源

X光管

1、仪器概述


    电镀液由含有镀覆金属的化合物、导电的盐类、缓冲剂、pH调节剂和添加剂等的水溶液组成。通电后,电镀液中的金属离子,在电位差的作用下移动到阴上形成镀层。电镀时,阳材料的质量、电镀液的成分都会影响镀层的质量,需要适时进行控制。

    


实验表明,使用EDX 1800B仪器对镀液成分进行测试结果、速度捷、操作方面。可以替代现有的电镀液成分分析方法(EDTA滴定法)进行测试。


重金属及槽液杂质检测解决方案


    电镀,就其本质,就是通过电化学的方法,将一种金属或金属化合物镀覆到基体上的工艺。电镀的基本原材料就是锌、镍、铜、铬及金、银等重金属。 由于电镀原理,这些金属是不能变成我们所需要的镀层,其中有相当部分将变成污染物存在于电镀废水中、污泥中,也有部分气化形成有害气体,形成对环境的重金属污染。为了满足电镀行业污染物重金属的测试ROHS检测仪仪器有限公司特别推出了AAS系列 原子吸收分光光度计。专门关于电镀行业重金属污染物测试方法。此方法针对行业标准CJ/T 65-1999作出了调整,经过调整后的方法,元素损失小,前处理方法为简便,试剂使用量少,节约了成本。


1、仪器概述


AAS 9000 火焰石墨炉一体式原子吸收


     火焰石墨炉一体式原子吸收具备火焰石墨炉两种原子化器,因此集合了火焰石墨炉两种原子吸收仪器的优点,用户可以根据测试需要,切换原子化器,达到优秀测试效果。

    AAS 9000(含石墨炉自动进样器)以及AAS 9000-M(不含石墨炉自动进样器)具备火焰石墨炉双原子化器,通用性强,串联式光路设计,无须机械切换,测试稳定可靠。


AAS 8000 石墨炉原子吸收分光光度计


     石墨炉原子吸收适用于物质中痕量、痕量金属元素的测试,测试元素可达60种,具备ROHS检测仪厂家供应,ROHS检测仪仪器,进样量少等特点,尤其适合于镉、铬、铅、铝、钼等元素的检测。

    AAS 8000(含石墨炉自动进样器)以及AAS 8000-M(不含石墨炉自动进样器)ROHS检测仪厂家供应,ROHS检测仪仪器,操作简单,使用方便。


AAS 6000 火焰原子吸收分光光度计


    火焰原子吸收适用于物质中微量、痕量金属元素的测试,测试元素30多种,具备仪器结构简单,分析测试速度,重复性好,干扰少的特点,尤其适合于铜、锌、钾、钠、金、银等元素的检测。

     AAS 6000自动化程度可以,技术成熟,操作简单,稳定可靠。


2、性能特点


全反射消色差光学系统:采用轮胎镜代替凸透镜作为仪器的光学聚焦设备,有效解决了不同元素焦点不同的色差问题,提可以了光学系统效率。

C-T型单色器:采用1800线/mm、闪耀波长230nm光栅分光系统。

八元素灯灯塔:八只灯分别配备八路立灯电源,一灯工作,多可以七灯预热,节省了换灯和预热时间,使元素测量加捷方便。

全自动化设计:除主机电源开关外,仪器全部功能通过计算机监测与控制。

背景校正系统:具备氘灯与自吸收两种背景校正模式,背景信号1A时,扣背景能力30倍以上。



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